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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 定製定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 定製定做
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 定製定做
冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 定製定做

露點(diǎn)

測(cè)量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

和微波暗室的測(cè)試目的一樣,TEMCELL也是一個(gè)模擬理想空間的天線測(cè)試環(huán)境,金屬箱能夠提供足夠的功能來消除外部乾擾對(duì)天線的影響,而內(nèi)部的吸波材料也能吸收入射波,減小反射波。TEMCELL不能對(duì)天線進(jìn)行無源測(cè)試,隻能對(duì)有源指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。由於空間限製,TEMCELL的吸波材料比較薄,而對(duì)於劈狀吸波材料,是通過劈尖間的多次反射增加對(duì)入射波進(jìn)行吸收,因此微波暗室裡的吸波材料都比較厚,而TEMCELL的吸波材料都不購厚,因此對(duì)入射波的吸收都不是很充分,因此會(huì)導(dǎo)致測(cè)試的結(jié)果不。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 定製定做1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其後每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。現(xiàn)有方法存在局限性,特彆是涉及到振動(dòng)數(shù)據(jù)(無論以何種方式獲得)和確定誤差源時(shí)。典型數(shù)據(jù)采集方法包括安裝在機(jī)器上的簡單壓電傳感器和手持式數(shù)據(jù)采集工具等。這些方法存在多種局限性,特彆是與理想的檢測(cè)與係統(tǒng)解決方案相比較,後者可以嵌入機(jī)器上或機(jī)器中,並能自治工作。下麵深入討論這些局限性及其與理想解決方案——自治無線嵌入式傳感器——的對(duì)比。對(duì)完全嵌入式自治檢測(cè)元件的複雜係統(tǒng)目標(biāo)的選項(xiàng)可以分為十個(gè)不同方麵,包括實(shí)現(xiàn)高重複度的測(cè)量、評(píng)估采集到的數(shù)據(jù)、適當(dāng)?shù)奈臋n記錄和可追溯性等,下麵將對(duì)各方麵進(jìn)行說明並探討可用方法與理想方法。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 定製定做

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

可偏偏電動(dòng)汽車電機(jī),特彆是乘用車電機(jī),動(dòng)輒上萬rpm的轉(zhuǎn)速,讓磁粉製動(dòng)器直接出局。磁滯製動(dòng)器:和磁粉相反,可以輸出很高的轉(zhuǎn)速,但輸出扭矩收到很大的局限,隻能輸出小扭矩(100N.m以內(nèi))。對(duì)於電動(dòng)汽車的低速大扭矩工況(200~500N.m的扭矩輸出非常常見),磁滯又無法滿足需求。電渦流製動(dòng)器:支持大扭矩、高轉(zhuǎn)速的扭矩輸出,但在額定轉(zhuǎn)速範(fàn)圍內(nèi)(一般是2600~3000rpm),轉(zhuǎn)矩輸出和轉(zhuǎn)速輸出是成正比的,無法滿足低速(幾百rpm)情況下的大扭矩輸出。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 定製定做

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。交叉編譯相關(guān)庫移植人臉識(shí)彆算法庫,該庫基於NCNN神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)上搭建人臉識(shí)彆係統(tǒng),依賴的庫有OpenCV、NCNN以及Sqlit3。這些庫需要交叉編譯,其中OpenCV和Sqlit3的ARM版S32V已經(jīng)提供不需要再進(jìn)行編譯,編譯後的NCNN和人臉識(shí)彆算法庫都是靜態(tài)庫,不需要拷貝到目標(biāo)板上。人臉檢測(cè)Demo通過Qt來實(shí)現(xiàn)界麵顯示,在pro文件中添加VSDK中獲取攝像頭數(shù)據(jù)的相關(guān)庫,算法移植的相關(guān)庫,然後通過如下API接口獲取圖像數(shù)據(jù)。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 定製定做

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 以鋁板中Lamb波的傳播為例,其頻散曲線可采用半解析有限元法求得,隻需要在波導(dǎo)介質(zhì)的截麵上作有限元離散,而沿波導(dǎo)介質(zhì)傳播方向的位移則以簡諧波的振動(dòng)方式表示,在對(duì)介質(zhì)截麵進(jìn)行有限元離散後,根據(jù)哈密頓原理可以推導(dǎo)出導(dǎo)波在介質(zhì)中的波動(dòng)方程,求解特征值可以得到波數(shù)和頻率的關(guān)係,進(jìn)而繪製出頻散曲線。通過半解析有限元法,以鋁板厚度d=0.8mm繪製鋁板中導(dǎo)波的相速度和群速度頻散曲線,得到的模態(tài)分布分彆如圖2,3所示。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 氣體定量檢漏儀 定製定做


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