HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微水測(cè)試儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6氣體檢漏儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)	測(cè)量範(fàn)圍	－80 ℃～+20 ℃
	測(cè)量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測(cè)量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

揮動(dòng)手臂產(chǎn)生的微多普勒效應(yīng)利用雷達(dá)識(shí)彆運(yùn)動(dòng)的技術(shù)可以應(yīng)用在不同的場(chǎng)景中。比如在體育運(yùn)動(dòng)中，可以借用這項(xiàng)技術(shù)檢測(cè)人和球類的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)和運(yùn)動(dòng)軌跡。在居家環(huán)境下，還可以做摔倒檢測(cè)，用於預(yù)防老人摔倒。目前，我們的技術(shù)已經(jīng)可以通過(guò)處理雷達(dá)數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)運(yùn)動(dòng)狀態(tài)和軌跡的解讀。手勢(shì)識(shí)彆交互人機(jī)交互是雷達(dá)技術(shù)的另一個(gè)重要應(yīng)用領(lǐng)域，如手勢(shì)識(shí)彆交互。利用雷達(dá)采集的距離、多普勒信息，以及快速采樣獲得的手動(dòng)態(tài)運(yùn)動(dòng)曆史信息，雷達(dá)可以很好地展現(xiàn)手的動(dòng)態(tài)運(yùn)動(dòng)特性，並可以從不同的角度觀測(cè)手的運(yùn)動(dòng)。1、連接SF₆設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測(cè)量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其後每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。不同的體係對(duì)精度的要求不一樣。單體電池OCV曲線及其電壓采集精度要求對(duì)於LMO/LTO電池，單體電壓采集精度隻需達(dá)到10mV。對(duì)於LiFePO4/C電池，單體電壓采集精度需要達(dá)到1mV左右。但目前單體電池的電壓采集精度多數(shù)隻能達(dá)到5mV。1.2采樣頻率與同步電池係統(tǒng)信號(hào)有多種，而電池管理係統(tǒng)一般為分布式，信號(hào)采集過(guò)程中，不同控製子板信號(hào)會(huì)存在同步問(wèn)題，會(huì)對(duì)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)算法產(chǎn)生影響。設(shè)計(jì)BMS時(shí)，需要對(duì)信號(hào)的采樣頻率和同步精度提出相應(yīng)的要求。

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

原子吸收光譜法，是基於氣態(tài)的基態(tài)原子外層電子對(duì)紫外光和可見光範(fàn)圍的相對(duì)應(yīng)原子共振輻射線的吸收強(qiáng)度來(lái)定量被測(cè)元素含量為基礎(chǔ)的方法，是一種測(cè)量特定氣態(tài)原子對(duì)光輻射的吸收的方法。此法是20世紀(jì)50年代中期出現(xiàn)並在以後逐漸發(fā)展起來(lái)的一種新型的儀器方法，它在地質(zhì)、冶金、機(jī)械、化工、農(nóng)業(yè)、食品、輕工、生物醫(yī)藥、環(huán)境保護(hù)、材料科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。該法主要適用樣品中微量及痕量組分。每一種元素的原子不僅可以發(fā)射一係列特征譜線，也可以吸收與發(fā)射線波長(zhǎng)相同的特征譜線。

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)麵，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè)，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁(yè)麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。係統(tǒng)要求整機(jī)係統(tǒng)要求長(zhǎng)時(shí)間工作，對(duì)主控設(shè)備可靠性要求較高；主控設(shè)備安裝於終端整機(jī)係統(tǒng)中，終端整機(jī)係統(tǒng)一般放置於工作車間內(nèi)，且?guī)в凶詣?dòng)輸送係統(tǒng)，受振動(dòng)、灰塵等惡劣環(huán)境影響較大；因?yàn)樾枰杉臄?shù)據(jù)路數(shù)不多，相應(yīng)需要擴(kuò)展的接口也不多，一般1-2個(gè)即可；因?yàn)橐蛴y(cè)試結(jié)果，所以需要打印接口；因?yàn)橐{(diào)試設(shè)備、設(shè)置參數(shù)、顯示結(jié)果等，所以VGA接口、PS2接口(分開)是必須的；因?yàn)樾枰B接一些PLC控製設(shè)備，所以COM口也是必須的；因?yàn)闇y(cè)試過(guò)程中若發(fā)現(xiàn)異常，必須要求及時(shí)報(bào)警，所以主板必須自帶蜂嗚器，檢測(cè)程序一般會(huì)利用此蜂嗚器；主控係統(tǒng)要完成信息的采集、處理、、傳輸通信等功能，CPU性能不能太低，但是一般也不要求太商，適用即可。

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)麵。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 尤其是在以下兩種情況下，非常不建議采用兩線製測(cè)試：測(cè)試導(dǎo)線過(guò)長(zhǎng)，R1R2偏大，有時(shí)甚至?xí)叱霰粶y(cè)電阻，兩線製測(cè)試極易導(dǎo)致結(jié)果錯(cuò)誤；被測(cè)電阻Rb為低阻值時(shí)，饋線電阻的影響會(huì)比平時(shí)更大，也容易造成讀數(shù)誤差較大。蓄電池的內(nèi)阻很小，2V電芯的典型內(nèi)阻為.3mΩ，所以對(duì)於此類阻值的測(cè)量，需要采用更的測(cè)試方法。四線製測(cè)試原理四線製測(cè)試法即為開爾文測(cè)試法。如下圖所示，開爾文連接有兩個(gè)要求：對(duì)於每個(gè)測(cè)試點(diǎn)都有一條激勵(lì)線和一條檢測(cè)線,二者嚴(yán)格分開，各自構(gòu)成立回路：激勵(lì)回路用於測(cè)定流過(guò)Rb的電流I1，檢測(cè)回路用於測(cè)定Rb兩端的電壓V34，因電壓表的內(nèi)部阻抗遠(yuǎn)遠(yuǎn)大於檢測(cè)回路的饋線電阻R3和R4，因此流經(jīng)電壓表的電流I2幾乎為零，所量到的電壓V34也幾乎是Rb本身的壓降。