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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 30年經(jīng)驗(yàn)
冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)

測量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

光纖的主要材料是石英玻璃,與金屬傳感器相比具有更大的耐久性,而且光纖本身也具有結(jié)構(gòu)簡單、體積小、質(zhì)量輕、耗能少等優(yōu)勢;抗乾擾:光纖是非金屬、絕緣材料,避免了電磁、雷電等乾擾,況且電磁乾擾噪聲的頻率與光頻相比很低,對光波無乾擾。此外,光波易於,外界光的乾擾也很難進(jìn)入光纖。分布式光纖應(yīng)變傳感技術(shù)根據(jù)探測光輸出方式、信號光檢測方法以及探測原理的不同分門彆類形成了基於分布式光纖傳感的應(yīng)變探測技術(shù),在應(yīng)變測量精度、測量距離、空間分辨率以及數(shù)據(jù)刷新速度等方麵各具優(yōu)勢。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 30年經(jīng)驗(yàn)1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測量時間需要510分鐘,其後每臺設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。利用遷移原理對液麵測量方法進(jìn)行改進(jìn)從以上中可以了解到智能差壓變送器測液麵正、負(fù)遷移的原理,簡單的來說,就是當(dāng)h=0時,若變送器感受到的△p=0,則不需要遷移;若變送器感受到的△p>0。則需要正遷移;若變送器感受到的△p<0。則需要負(fù)遷移。這樣在實(shí)際應(yīng)用中,就可以根據(jù)生產(chǎn)裝置的工藝情況和儀表的使用條件及周圍環(huán)境等靈活應(yīng)用,對差壓測量液麵故障進(jìn)行簡單的處理並進(jìn)行相應(yīng)的改進(jìn)。正遷移故障判斷正遷移的差壓變送器在現(xiàn)場使用過程中測量是否準(zhǔn)確,應(yīng)打開三閥組平衡閥,關(guān)閉差壓變送器三閥組的正、負(fù)壓測量室,打開儀表放空堵頭,此時儀表輸出應(yīng)≤4mA。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量後,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

截至216年9月1日,該承認(rèn)已經(jīng)發(fā)生了35起事故。的毀壞程度極高,幾乎整塊屏幕都被燒焦,嚴(yán)重程度可以威脅到用戶的人身**。這一事故,也引起了對鋰離子電池**性的熱烈討論。低端產(chǎn)能嚴(yán)重過剩,產(chǎn)品事故頻頻發(fā)生,鋰離子電池的**已經(jīng)成為了我們不容忽視的問題。為了鋰離子電池行業(yè)的持續(xù)發(fā)展,如何確保鋰離子電池的**,成了目前整個行業(yè)為關(guān)心的問題。艾德克斯電子從用戶的實(shí)際需求出發(fā),推出了IT51係列電池內(nèi)阻測試儀,幫助用戶從產(chǎn)品設(shè)計、生產(chǎn)製造、測試檢驗(yàn)等多個方麵確保鋰離子電池的**。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵,保存數(shù)據(jù)時,可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號。

設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁麵。

顯示時從後一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。外部乾擾——電子設(shè)備或係統(tǒng)以外的因素對線路、設(shè)備或係統(tǒng)的影響。外部高電壓、電源通過絕緣漏電而乾擾電子線路、設(shè)備或係統(tǒng)。外部大功率的設(shè)備在空間產(chǎn)生很強(qiáng)的磁場,通過互感耦合乾擾電子線路、設(shè)備或係統(tǒng)??臻g電磁對電子線路或係統(tǒng)產(chǎn)生的乾擾。工作環(huán)境溫度不穩(wěn)定,引起電子線路、設(shè)備或係統(tǒng)內(nèi)部元器件參數(shù)改變造成的乾擾。電磁乾擾的傳播途徑1.當(dāng)乾擾源頻率較高,且乾擾信號波長比擾對象結(jié)構(gòu)尺寸小,則乾擾信號可認(rèn)為是輻射場,以平麵電磁波形式向外輻射電磁場能量,並進(jìn)入擾對象的通路。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 儀表應(yīng)用技術(shù)的研究具有現(xiàn)實(shí)的經(jīng)濟(jì)意義。開表率是儀表應(yīng)用技術(shù)水平和儀表本身品質(zhì)的綜合表現(xiàn)。測量方法和儀表對測量對象、使用環(huán)境的匹配、協(xié)調(diào)、優(yōu)化、以及在此之前的設(shè)計選型和安裝調(diào)試等環(huán)節(jié)都是影響開表率的重要因素。這些年來,我國的流量測量儀表應(yīng)用技術(shù)獲得了長足的進(jìn)步,流量測量儀表的開表率有了很大提高,這一方麵是由於儀表人員整體技術(shù)水平有了明顯提高,責(zé)任意識有所增強(qiáng),更重要的是儀表的品質(zhì)比以前計劃經(jīng)濟(jì)年代有了大幅度提高,進(jìn)口儀表和引進(jìn)國外先進(jìn)技術(shù)組裝的儀表比重在上升,尤其是儀表普通實(shí)現(xiàn)智能化後,測量範(fàn)圍可調(diào)比大大擴(kuò)展,以前由於測量範(fàn)圍選擇不合適而無法投入正常使用的儀表,通過變更量程一般都能投入使用。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測試儀 30年經(jīng)驗(yàn)


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