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HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
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露點(diǎn) |
測(cè)量範(fàn)圍 |
－80 ℃～+20 ℃ |
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測(cè)量精度 |
±1℃（－80℃～＋20℃） |
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測(cè)量時(shí)間 （＋20℃） |
<3分鐘。 |
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環(huán)境溫度 |
－40℃～＋60℃ |
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新型LTE23無(wú)線(xiàn)通信係統(tǒng)充分利用低頻段覆蓋距離遠(yuǎn)以及4GLTE先進(jìn)技術(shù)的優(yōu)勢(shì)，具有大容量、廣覆蓋、率、高**性等特點(diǎn)，在電力無(wú)線(xiàn)專(zhuān)網(wǎng)領(lǐng)域受到越來(lái)越多的關(guān)注。統(tǒng)LTE23電力無(wú)線(xiàn)通信係統(tǒng)可直接部署在23MHz電力4個(gè)授權(quán)頻點(diǎn)上，符合對(duì)低頻段的技術(shù)升級(jí)改造政策，當(dāng)前LTE23電力無(wú)線(xiàn)通信專(zhuān)網(wǎng)已經(jīng)在北京東城區(qū)、江蘇揚(yáng)州、浙江海鹽等多處開(kāi)展了試點(diǎn)工作，為電力通信專(zhuān)網(wǎng)建設(shè)提供了良好的借鑒意義和示範(fàn)作用。
1、連接SF6設(shè)備
將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；
再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；
將排氣管道連接到出氣口。
後將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。
3、開(kāi)始測(cè)量
打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。
設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其後每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。
4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)
設(shè)備測(cè)量完成後，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。當(dāng)總線(xiàn)接口受到靜電放電時(shí)，由於總線(xiàn)側(cè)懸空，能量隻能通過(guò)隔離柵的等效電容Ciso進(jìn)行泄放，由於Ciso非常小，僅有幾皮法至十幾皮法，Ciso被迅速充電，兩端電壓Viso會(huì)非常高，幾乎等同於放電電壓。電壓施加在隔離接口模塊的隔離柵，若電壓超出了隔離柵的電壓承受範(fàn)圍，則會(huì)導(dǎo)致內(nèi)部隔離柵損壞。圖3對(duì)於一般的隔離接口模塊，隔離柵可承受的靜電放電電壓隻有4kV，對(duì)於更高等級(jí)的6kV或8kV的靜電來(lái)說(shuō)是非常脆弱的，極易出現(xiàn)損壞情況。
5、測(cè)量其他設(shè)備
一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。
6、測(cè)量結(jié)束
所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後，關(guān)閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。
拉曼光譜技術(shù)在材料科學(xué)研究中的應(yīng)用拉曼光譜在材料科學(xué)中是物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究的有力工具，在相組成界麵、晶界等課題中可以做很多工作。包括：薄膜結(jié)構(gòu)材料拉曼研究：拉曼光譜已成CVD（化學(xué)氣相沉積法）製備薄膜的檢測(cè)和鑒定手段。拉曼可以研究單、多、微和非晶矽結(jié)構(gòu)以及硼化非晶矽、氫化非晶矽、金剛石、類(lèi)金剛石等層狀薄膜的結(jié)構(gòu)。超晶格材料研究：可通過(guò)測(cè)量超晶格中的應(yīng)變層的拉曼頻移計(jì)算出應(yīng)變層的應(yīng)力，根據(jù)拉曼峰的對(duì)稱(chēng)性，知道晶格的完整性。
1、保存數(shù)據(jù)
在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)麵，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。
設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號(hào)後，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè)，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁(yè)麵。
顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。本文將向您展示如何使用LabVIEWNXG的版本來(lái)解決以下四個(gè)組織挑戰(zhàn)，並快速進(jìn)入到下一個(gè)工程設(shè)計(jì)：減少測(cè)試係統(tǒng)的設(shè)置和配置時(shí)間儘快開(kāi)始下一次測(cè)量增加測(cè)試軟件之間的協(xié)作將正確的測(cè)試數(shù)據(jù)展示給正確的人通過(guò)減少係統(tǒng)設(shè)置和配置時(shí)間更智能地進(jìn)行測(cè)試您需要多少工程時(shí)間來(lái)搜索手冊(cè)、引腳、正確的硬件驅(qū)動(dòng)程序、正確的實(shí)用程序等？NI近對(duì)多個(gè)行業(yè)的400多名工程師進(jìn)行的調(diào)查顯示，測(cè)試工程師麵臨的重要且常見(jiàn)的困難之一就是在需要連接和集成組件的環(huán)境中，短時(shí)間內(nèi)完成測(cè)量，這些組件通常包含來(lái)自不同供應(yīng)商的儀器。
3、刪除記錄
在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時(shí)間
在測(cè)量狀態(tài)，通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)麵。
通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。
輸入小時(shí)、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。
環(huán)境方麵外部環(huán)境方麵所引起的故障大多是因?yàn)閮x表受外界電磁波、電機(jī)磁場(chǎng)、雜散電流等乾擾引發(fā)的。外界電磁波乾擾主要是由信號(hào)電纜引入，通常采用單層或者多層進(jìn)行保護(hù)。電流乾擾通常采取比較良好的單接地保護(hù)即可獲得滿(mǎn)意測(cè)量。流體方麵流體內(nèi)的微小氣泡一般情況下影響不了正常的電磁流量計(jì)測(cè)量，隻是測(cè)得的流體體積流量為流體和氣體之和。流體內(nèi)的微小氣泡增大會(huì)使流量計(jì)的輸出信號(hào)產(chǎn)生變化，如果流體內(nèi)的微小氣泡增大到覆蓋整個(gè)電極表麵，將使電極信號(hào)回路瞬間斷開(kāi)，使所測(cè)得的輸出信號(hào)產(chǎn)生比較大的變化。