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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量
冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

在一些情況中,會(huì)出現(xiàn)抽點(diǎn)的間隔很大,使得實(shí)際用於的采樣率不足,這時(shí)係統(tǒng)會(huì)給出提示。非提示如所示,提示出現(xiàn)在屏幕左上方,從事件表可以看到,波形中間出現(xiàn)了部分錯(cuò)誤的幀,這種錯(cuò)誤是采樣率不足導(dǎo)致的。需要注意的時(shí),出現(xiàn)這種提示時(shí),不一定就會(huì)出錯(cuò),它是一種警告。而當(dāng)我們真的不能正常時(shí),隻需要按照係統(tǒng)提示的內(nèi)容進(jìn)行操作(如圖應(yīng)該減少時(shí)基),就能回歸狀態(tài)。這也是點(diǎn)中描述的全內(nèi)存約束。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其後每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。作為一款芯片上的雷達(dá)係統(tǒng),大多數(shù)工程師傾向於根據(jù)其原始用途按認(rèn)知對(duì)器件進(jìn)行分類。是將單芯片雷達(dá)視為另一種類型的傳感器。當(dāng)尋找一款能夠接近檢測(cè)物體、運(yùn)動(dòng)傳感,或進(jìn)行物理測(cè)量的器件時(shí),毫米波雷達(dá)意外當(dāng)選。調(diào)頻連續(xù)波的線性調(diào)頻信號(hào)通常用於76~81GHz頻段雷達(dá)主要用於測(cè)量距離、方向(角度)和速度。警察用雷達(dá)測(cè)速,棒球運(yùn)動(dòng)場(chǎng)用測(cè)速槍(雷達(dá)槍)來測(cè)試棒球速度。芯片中的發(fā)射器(Tx)發(fā)射一個(gè)信號(hào),然後該信號(hào)從遠(yuǎn)程對(duì)象反射回來並返回到位於發(fā)射端的接收器。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

如果阻抗是無窮大,橋路就是斷開的,說明傳感器有問題或者引腳的定義冇有判斷正確。零點(diǎn)的檢測(cè),用萬用表的電壓檔,檢測(cè)在冇有施加壓力的條件下,傳感器的零點(diǎn)輸出。這個(gè)輸出一般為mV級(jí)的電壓,如果超出了傳感器的技術(shù)指標(biāo),就說明傳感器的零點(diǎn)偏差超範(fàn)圍。加壓檢測(cè),檢單的方法是:給傳感器供電,用嘴吹壓力傳感器的導(dǎo)氣孔,用萬用表的電壓檔檢測(cè)傳感器輸出端的電壓變化。如果壓力傳感器的相對(duì)靈敏度很大,這個(gè)變化量會(huì)明顯。如果絲毫冇有變化,就需要改用氣壓源施加壓力。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。傾角傳感器,是一種測(cè)量相對(duì)於水平麵的傾角變化量的傳感器。其實(shí),傾角傳感器是運(yùn)用慣性原理的一種加速度傳感器。根據(jù)基本的物理原理,在一個(gè)係統(tǒng)內(nèi)部,速度是無法測(cè)量的,但卻可以測(cè)量其加速度。如果初速度已知,就可以通過積分算出線速度,進(jìn)而可以計(jì)算出直線位移,所以它其實(shí)是運(yùn)用慣性原理的一種加速度傳感器。傾角傳感器被用於測(cè)量角度的應(yīng)用中。,高精度激光儀器水平、工程機(jī)械設(shè)備調(diào)平、遠(yuǎn)距離測(cè)距儀器、高空平臺(tái)**保護(hù)、定向衛(wèi)星通訊天線的俯仰角測(cè)量、船舶航行姿態(tài)測(cè)量、盾構(gòu)頂管應(yīng)用、大壩檢測(cè)、地質(zhì)設(shè)備傾斜監(jiān)測(cè)、火炮炮管初射角度測(cè)量、雷達(dá)車輛平臺(tái)檢測(cè)、衛(wèi)星通訊車姿態(tài)檢測(cè)等等。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 在實(shí)際應(yīng)用過程中,電容老化測(cè)試設(shè)備內(nèi)部可編程電源輸出的合理紋波和數(shù)米長(zhǎng)線纜上耦合的高頻噪聲容易乾擾漏電流檢測(cè)結(jié)果??删幊屉娫摧敵鼋?jīng)過數(shù)米長(zhǎng)線纜後,終注入電容LC測(cè)試功能模塊。當(dāng)乾擾噪聲嚴(yán)重時(shí),現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際測(cè)量的u漏電流結(jié)果誤差增大,甚至可能出現(xiàn)負(fù)值,造成產(chǎn)品測(cè)試異常,帶來終端客戶抱怨。我們?nèi)绾尾拍茉诠S內(nèi)部複雜電磁環(huán)境下確保電容樣品漏電流特性的高精度測(cè)量呢?下麵分享某電容老化測(cè)試客戶高精度供電乾擾改善案例,利用TDK-Lambda業(yè)界的可編程電源匹配合理外圍方案,從而解決傳統(tǒng)電容老化客戶普遍麵臨的痛點(diǎn)問題。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量


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