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HN2016智能sf6微水測試儀sf6微水測試儀 SF6抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點儀 定製定做
露點 |
測量範(fàn)圍 |
-80 ℃~+20 ℃ |
測量精度 |
±1℃(-80℃~+20℃) |
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測量時間 (+20℃) |
<3分鐘。 |
|
環(huán)境溫度 |
-40℃~+60℃ |
IOS係統(tǒng)機型大於5S的蘋果,需要在AppStore裡搜索“FLIRONE”,然後點擊安裝。該軟件同樣適用於iPaAppleWatch。安裝後的界麵,如下圖:另外,兩個係統(tǒng)的使用無異,隻是方式有所區(qū)彆。注意:無論是Android係統(tǒng)和IOS係統(tǒng)下的“FLIRONE”軟件,也適用於FLIRONE熱像儀。後,一起看下其他小夥伴“FLIRONE”後使用熱像儀的效果圖?!癋LIRONE”讓你的具備強大的熱成像功能,MSX技術(shù)將圖像細節(jié)與熱圖像融合一體。1、連接SF6設(shè)備
將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手擰緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;
再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;
將排氣管道連接到出氣口。
後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手擰緊;
2、檢查電量
本儀器優(yōu)先使用交流電。
使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請關(guān)機充電後繼續(xù)使用。
3、開始測量
打開儀測量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。
設(shè)備測量時間需要5~10分鐘,其後每臺設(shè)備需要3~5分鐘。
4、存儲數(shù)據(jù)
設(shè)備測量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。挑戰(zhàn)在於,在“空中”(OTA)進行測量時,基準電平必需保持得相當(dāng)高(-30dBm),這樣在測量所有RF能量時,頻譜儀才不會過載。在大多數(shù)頻譜儀中,RBW控製功能會根據(jù)用戶配置的頻寬自動設(shè)置。在OTA測量中,應(yīng)降低RBW值,以查看可能影響受擾接收機的小信號。這種組合導(dǎo)致大多數(shù)電池供電的頻譜儀的掃描速率非常低,也就是說,其不可能看到導(dǎo)致乾擾的小的間歇性瞬態(tài)信號。實時頻譜儀解決了這個問題,它能夠使用RBW較窄的濾波器測量頻譜,速度要快於基本掃頻儀。
5、測量其他設(shè)備
一臺設(shè)備測量後,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。
6、測量結(jié)束
所有設(shè)備測量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。
一、 菜單操作
在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1。
如果一定要搬動,切記先切斷電源後稍等片刻再搬動;避免陽光直射顯示屏:陽光曝曬,不僅影響觀察,而且還會使液晶屏老化,發(fā)光率下降,壽命縮短,平時放置時用深色布罩套??;儘量減少開關(guān)次數(shù):儀器每一次開機,會受到一次瞬間大電流衝擊,另外,由於電路上使用了一些感性與容性元器件,開機瞬間產(chǎn)生過壓、過流現(xiàn)象,容易損壞元器件,有些故障往往就是開關(guān)機瞬間出現(xiàn)的;注意發(fā)現(xiàn)機器有故障時應(yīng)立即關(guān)機:如在使用過程中出現(xiàn)冒煙、有焦味或光柵異常都應(yīng)該立即關(guān)機,請專業(yè)人員檢修以免造成更大損失;定期擦拭儀器外壁;要注意防止潮濕侵蝕:潮濕不僅會降低高壓部件絕緣性能,引起打火、散熱等現(xiàn)象,而且金屬印刷銅箔和元器件引腳容易受到腐蝕和損壞。1、保存數(shù)據(jù)
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數(shù)據(jù)頁麵,保存數(shù)據(jù)時,可以根據(jù)設(shè)備進行編號。
設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。
輸入編號後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數(shù)據(jù)。
2、查看記錄
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁麵。
顯示時從後一個被保存的數(shù)據(jù)開始。
可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。電磁乾擾的三要素是乾擾源、乾擾傳輸途徑、乾擾接收器。EMC就圍繞這些問題進行研究。基本的乾擾技術(shù)是、濾波、接地。它們主要用來切斷乾擾的傳輸途徑。廣義的電磁兼容控製技術(shù)包括乾擾源的發(fā)射和提高乾擾接收器的敏感度,但已延伸到其他學(xué)科領(lǐng)域。本規(guī)範(fàn)重點在單板的EMC設(shè)計上,附帶一些必須的EMC知識及法則。在印製電路板設(shè)計階段對電磁兼容考慮將減少電路在樣機中發(fā)生電磁乾擾。問題的種類包括公共阻抗耦合、串?dāng)_、高頻載流導(dǎo)線產(chǎn)生的輻射和通過由互連布線和印製線形成的回路拾取噪聲等。
3、刪除記錄
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。
4、修改時間
在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁麵。
通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。
輸入小時、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。
大陸封測產(chǎn)業(yè)的機遇摩爾定律由英特爾創(chuàng)始人之一戈登摩爾提出,大致意思為,每隔18-24個月在價格不變的情況下,集成電路上可容納的元器件數(shù)目會翻一倍,性能也將提升一倍。這一定律統(tǒng)治了半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)50多年,近些年卻屢屢被預(yù)估將要走向終結(jié),而者中甚至包括摩爾本人。而這條金科玉律走向末路的佐證之一便是英特爾修改了基於摩爾定律的“Tick-Tock”策略,將這一架構(gòu)和工藝交替升級策略的研發(fā)周期在時間上從兩年延長至三年,製程工藝變?yōu)槿簧墸瑏K且其10nm製程一直跳票。