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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定製定做

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定製定做
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定製定做
冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定製定做

露點(diǎn)

測量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

在考慮上述問題之後就能確定選用何種類型的傳感器,然後再考慮傳感器的具體性能指標(biāo)。頻率響應(yīng)特性五金傳感器的頻率響應(yīng)特性決定了被測量的頻率範(fàn)圍,必須在允許頻率範(fàn)圍內(nèi)保持不失真的測量條件,實(shí)際上傳感器的響應(yīng)總有—定延遲,希望延遲時(shí)間越短越好。傳感器的頻率響應(yīng)高,可測的信號頻率範(fàn)圍就寬,而由於受到結(jié)構(gòu)特性的影響,機(jī)械?係統(tǒng)的慣性較大,因有頻率低的傳感器可測信號的頻率較低。在動態(tài)測量中,應(yīng)根據(jù)信號的特點(diǎn)(穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)、隨機(jī)等)響應(yīng)特性,以免產(chǎn)生過火的誤差靈敏度的選擇通常,在傳感器的線性範(fàn)圍內(nèi),希望傳感器的靈敏度越高越好。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定製定做1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測量時(shí)間需要510分鐘,其後每臺設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。點(diǎn)測溫與區(qū)域測溫測量一個(gè)區(qū)域內(nèi)的溫度,而非逐個(gè)點(diǎn)、逐個(gè)點(diǎn)的進(jìn)行測溫,可以幫助研究人員和工程師對其正在測試的係統(tǒng)做出更好的知情決策。由於熱電偶和熱敏電阻都需要通過接觸才能進(jìn)行測溫,因此它們隻能一次提供一個(gè)位置的溫度數(shù)據(jù)。而且,小的測試目標(biāo)一次隻能安裝少數(shù)熱電偶。貼在其上,實(shí)際上熱電偶會散熱,而可能改變溫度讀數(shù)。傳統(tǒng)熱電偶的熱圖像非接觸式的測溫可能采用點(diǎn)溫儀(也稱為紅外測溫儀),但如同熱電偶一樣,點(diǎn)溫儀隻能測量單點(diǎn)的溫度。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定製定做

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量後,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

4151調(diào)製域儀具有的時(shí)間間隔測量功能及應(yīng)用演示如下:正時(shí)間間隔測量。4151調(diào)製域儀提供的正時(shí)間間隔測量功能,既可以實(shí)現(xiàn)單通道的連續(xù)周期測試,也可以實(shí)現(xiàn)雙通道之間的相對時(shí)間間隔測試,雙通道時(shí)間間隔測量需設(shè)置相對關(guān)係,AB或BA的正時(shí)間間隔測量。4151調(diào)製域儀正時(shí)間間隔的測量範(fàn)圍為4ns~8s,時(shí)間測量分辨率為5ps。正時(shí)間間隔測量演示上圖是用Tek公司的任意波形發(fā)生模擬了雷達(dá)發(fā)射與接收脈衝信號的正時(shí)間間隔測試結(jié)果,B通道輸入脈衝信號的周期為1us,相對延遲時(shí)間為ns。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定製定做

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號。

設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。世界半導(dǎo)體工業(yè)界,這種進(jìn)步至少仍將持續(xù)10到15年。麵對現(xiàn)有的晶體管模式及技術(shù)已經(jīng)臨近極限,借助芯片設(shè)計(jì)人員巨大的創(chuàng)造才能,使一個(gè)個(gè)看似不可逾越的難關(guān)化險(xiǎn)為夷,矽晶體管繼續(xù)著小型化的步伐。近期美國科學(xué)家的科技成果顯示,將10納米長的圖案壓印在矽片上的時(shí)間為四百萬分之一秒,把矽片上晶體管的密度提高了100倍,同時(shí)也大大提高了線生產(chǎn)的速度。這一成果將使電子產(chǎn)品繼續(xù)微小化,使摩爾定律繼續(xù)適用。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定製定做

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 每個(gè)示波器都有其輸入阻抗,這個(gè)阻抗是特性阻抗,不僅僅是電阻,還包含了電容和電感等。由於引入的額外負(fù)載,所以接入被測電路後,會從信號中汲取能量,實(shí)際上就會影響被測電路,惡劣的後果就是電路本來是正常工作的,引入示波器後卻不正常了,此時(shí)容易得出與事實(shí)相反的結(jié)論。因此我們在進(jìn)行測量時(shí)必須考慮到的負(fù)載特性及測試電路的阻抗匹配。在×1檔位時(shí),信號直接進(jìn)入示波器,這類在測試點(diǎn)處將其自身的電容(包括電纜的電容)與示波器的輸入阻抗連在了一起,這就是的負(fù)載效應(yīng)。冷鏡式露點(diǎn)儀 密度繼電器校驗(yàn)儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)測試儀 定製定做


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