HN2016智能sf6微水測試儀sf6純度儀 SF6分解物測試儀 sf6冷鏡式露點儀 30年經(jīng)驗

露點	測量範(fàn)圍	－80 ℃～+20 ℃
	測量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測量時間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

由於采用了現(xiàn)代測控手段，這些設(shè)備可以做得相當(dāng)精密，卻因設(shè)備複雜，昂貴，運作費時費工，主要作為標(biāo)準(zhǔn)計量之用，其測量精度可達(dá)±2%RH-±1.5%RH。靜態(tài)法中的飽和鹽法，是濕度測量中常見的方法，簡單易行。但飽和鹽法對液、氣兩相的平衡要求很嚴(yán)，對環(huán)境溫度的穩(wěn)定要求較高。用起來要求等很長時間去平衡，低濕點要求更長。特彆在室內(nèi)濕度和瓶內(nèi)濕度差值較大時，每次開啟都需要平衡6~8小時。露點法是測量濕空氣達(dá)到飽和時的溫度，是熱力學(xué)的直接結(jié)果，準(zhǔn)確度高，測量範(fàn)圍寬。1、連接SF₆設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥；

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時，請查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測量SF₆露點。

設(shè)備測量時間需要5～10分鐘，其後每臺設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成後，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。測試時，探針壓在PCB表麵的待測點，然後通電測試每個網(wǎng)點的通斷，並報告存在的短路和斷路缺陷。其局限在於隻能檢測短路和斷路兩種缺陷，缺口、針孔和殘留銅等其它缺陷都無法檢測。針床夾具的成本過高，小批量生產(chǎn)不合適；但是隨著電子組裝向更高密度、更小尺寸、更複雜的PCB混合技術(shù)的縱深發(fā)展，僅依靠人眼檢測或電測試印製電路板的質(zhì)量無法滿足品質(zhì)要求。為提高產(chǎn)品質(zhì)量，減少進(jìn)入下步工序的有缺陷電路板的數(shù)量，對PCB檢測中的關(guān)鍵設(shè)備----自動光學(xué)檢測(AOI)係統(tǒng)的需求也越來越大。

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量後，關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備，按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束後，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài)，通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

在電子技術(shù)應(yīng)用領(lǐng)域，經(jīng)常要對開關(guān)電源、線性電源、UPS電源、變壓器、整流器、電池、充電器等電子設(shè)備進(jìn)行測試，傳統(tǒng)的測試方法中一般都采用電阻、滑動變阻器、電阻箱等充當(dāng)測試負(fù)載，但這些負(fù)載不能滿足我們對負(fù)載多樣性的需求，如：恒定電流的負(fù)載，隨意調(diào)節(jié)阻值的負(fù)載，恒定功率的負(fù)載，動態(tài)負(fù)載等，可編程電子負(fù)載才被設(shè)計開發(fā)出來。根據(jù)負(fù)載所接電流類彆，電子負(fù)載可以分為兩大類：直流電子負(fù)載和交流電子負(fù)載。本文主要討論直流電子負(fù)載。

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵，保存數(shù)據(jù)時，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號。

設(shè)備編號多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號後，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁麵。

顯示時從後一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。低功耗、高速度、高集成度的LSI電路是成多電子產(chǎn)品的要考慮，這也就導(dǎo)致裝置比以往任何時候更容易受到電磁乾擾的威脅。此外，大功率家電及辦公自動化設(shè)備的增多，以及移動通信、無線網(wǎng)絡(luò)的廣泛應(yīng)用等，又大大增加了電磁擾源。這些變化迫使人們把電磁兼容作為重要的技術(shù)問題加以關(guān)注。電磁兼容采用一定的技術(shù)手段，使同一電磁環(huán)境中的電子、電氣設(shè)備都能正常工作，並且不乾擾其他設(shè)備的正常工作，這就是電磁兼容（ElectromagneticCompatibility，縮寫為EMC)。

3、刪除記錄

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 但通過熱像儀，我們可以準(zhǔn)確看到佛像左小手臂下方有明顯的裂縫存在。這其中的原理是，裂縫中存在空氣對流的情況，導(dǎo)致裂紋處的表麵溫度與佛像本體的溫度存在溫差。熱像儀將溫度場分布通過圖像的形式來表達(dá)，所以在紅外圖中可以直觀看到，但在可見光中無法看到該裂縫。受潮檢測佛像底座受潮檢測，針對黴變隱患處進(jìn)行防黴除黴處理。由於佛像依山開鑿，山體中的毛細(xì)水沿著山勢經(jīng)年累月緩慢地浸入佛像底座。佛像中濕度大的區(qū)域與乾燥的區(qū)域，存在細(xì)微溫差。