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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)
冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)

測量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

結(jié)構(gòu)與等效電路本文提出的新型CMRC平麵結(jié)構(gòu)如所示,其LC等效電路模型如所示。介質(zhì)基板采用TaconicCER_1,其介電常數(shù)er=9.5,厚度.64mm。圖CMRC的平麵結(jié)構(gòu)圖LC等效電路模型濾波器特性仿真主要結(jié)構(gòu)參數(shù)對傳輸特性的影響我們對所示CMRC結(jié)構(gòu)應(yīng)用HFSS進(jìn)行建模以及仿真,並了主要結(jié)構(gòu)參數(shù)對濾波器傳輸特性的影響。在仿真中我們發(fā)現(xiàn)xy1以及y2對濾波器傳輸特性的影響較大,其影響特性曲線如至所示,由和可知減小x1和y1可以降低諧振頻率,從而相應(yīng)的可以減小低通頻率範(fàn)圍,這是因?yàn)樵诘刃щ娐纺P椭校瑴p小x1或y1都可以提高單位長度的分布串聯(lián)電感(L和L1)。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測量時(shí)間需要510分鐘,其後每臺設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。本文通過對常用20種液位計(jì)工作原理的解讀,從各液位計(jì)安裝使用及注意事項(xiàng)的,來判斷液位計(jì)可能出現(xiàn)的故障現(xiàn)象以及如何來處理,讓儀表人係統(tǒng)的了解液位計(jì),從而為遇到工況能夠在選擇液位計(jì)上,做出準(zhǔn)確的判斷提供依據(jù)。常用液位計(jì)的工作原理磁翻板液位計(jì)磁翻板液位計(jì):又叫磁浮子液位計(jì),磁翻柱液位計(jì)。原理:連通器原理,根據(jù)浮力原理和磁性耦合作用研發(fā)而成,當(dāng)被測容器中的液位升降時(shí),浮子內(nèi)的磁鋼通過磁耦合傳遞到磁翻柱指示麵板,使紅白翻柱翻轉(zhuǎn)180°,當(dāng)液位上升時(shí)翻柱由白色轉(zhuǎn)為紅色,當(dāng)液位下降時(shí)翻柱由紅色轉(zhuǎn)為白色,麵板上紅白交界處為容器內(nèi)液位的實(shí)際高度,從而實(shí)現(xiàn)液位顯示。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量後,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1

由於現(xiàn)場總線過長,導(dǎo)致總線上掛載電容增加,從而導(dǎo)致線路阻抗增加。在邊沿時(shí)間測試需要考慮電阻與電容匹配。模擬測試線路短,需要人為添加電容來模擬現(xiàn)場存在實(shí)際情況。在上表中典型值是根據(jù)現(xiàn)場電容、電阻得出的常用值。CAN邊沿時(shí)間測試步驟示波器測試CAN波形:用示波器采集CAN總線波形,設(shè)置幅值光標(biāo)為20%~80%,記錄上升沿的時(shí)間、下降沿時(shí)間。記錄多次數(shù)據(jù),確認(rèn)每次求得上升沿、下降沿時(shí)間都在標(biāo)準(zhǔn)範(fàn)圍內(nèi)。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號。

設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。當(dāng)轉(zhuǎn)換開關(guān)K與零線接通時(shí),測試儀所采樣的是中線與外殼間的泄漏電流;當(dāng)K與相線接通時(shí),測試的是相線與外殼間的泄漏電流。必須注意的是:K與零線接通或K與相線接通,泄漏電流不一定相同。這是因?yàn)榧矣秒娖鹘^緣弱點(diǎn)的位置是隨機(jī)的。泄漏電流測試應(yīng)通過K轉(zhuǎn)換極性,取其中的較大值作為被測電熱的泄漏電流值。測試注意事項(xiàng)在工作溫度下測量泄漏電流時(shí),如果被測電器不是通過隔離變壓器供電,被測電器應(yīng)彩絕緣性能可靠的物質(zhì)絕緣墊與地絕緣。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 基於3672係列矢量網(wǎng)絡(luò)儀的放大器增益壓縮測量應(yīng)用僅需一次設(shè)置,一次連接,一次校準(zhǔn)就可以得到放大器在頻域的所有增益壓縮參數(shù)(包括壓縮點(diǎn)的輸入功率,壓縮點(diǎn)的輸出功率,壓縮點(diǎn)的增益等)和線性參數(shù)(包括線性增益,輸入匹配,輸出匹配等)。我們具有:快速準(zhǔn)確的智能掃描;一目了然的向?qū)?zhǔn);方便快捷的USB電子校準(zhǔn),USB功率校準(zhǔn);二維掃描(頻率點(diǎn)掃功率和功率點(diǎn)掃頻率)一次完成;多種壓縮方法——從線性/增益壓縮、從飽和態(tài)壓縮、回退法和X/Y法。冷鏡法露點(diǎn)儀 SF6分解產(chǎn)物測試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)


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