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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6露點儀 sf6純度測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負載試驗及溫升試驗。sf6露點儀 sf6純度測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測試儀sf6露點儀 sf6純度測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質(zhì)量
sf6露點儀 sf6純度測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質(zhì)量

露點

測量範圍

80 ℃~+20

測量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測量時間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

兩線變送器的電源連接在變送器的輸出端。兩線變送器調(diào)製電源的電流從4?20mA,和輸入端成比例。兩線變送器的供電電源一般從24V~96V。大的電源可以使輸出端的環(huán)路負載能力加大很多。過程校驗儀現(xiàn)場檢測環(huán)路電源隔離器Fluke787過程校驗儀具有特的電流模擬功能。當連接至外部電源時,可以在0?24mA之間地控製電流。現(xiàn)場檢測環(huán)路電源隔離器時,兩線環(huán)路變送器向隔離器提供的電流信號可以被移去,而F787過程校驗儀可以用模擬方式控製環(huán)路電流。sf6露點儀 sf6純度測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手擰緊,關(guān)閉測量管道上另一端的針型閥;

再把測試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測量接口連接好,用扳手擰緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時,請查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請關(guān)機充電後繼續(xù)使用。

3、開始測量

打開儀測量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測量SF6露點。

設(shè)備測量時間需要510分鐘,其後每臺設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲數(shù)據(jù)

設(shè)備測量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。此類紅外熱像儀不需要製冷,且成本比量子探測器紅外熱像儀低。製冷型量子探測器采用銻化銦(InSb)、銦鎵砷(InGaAs)或應(yīng)變超晶格製成。這類探測器為光電探測器,即光子撞擊像素點,轉(zhuǎn)化為可存儲於積分電容器的電子。像素采用的電子快門,通過斷開或短路積分電容器來控製快門。量子探測器在本質(zhì)上比微測輻射熱計的速度要快,主要原因是微測輻射熱計必須要改變溫度。與改變像素溫度相反的是,量子探測器是將能量加到半導(dǎo)體中的電子裡,提至高於進入導(dǎo)電帶的探測器能量帶隙,根據(jù)探測器的不同設(shè)計,可以測量為探測器電壓或電流的變化。sf6露點儀 sf6純度測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質(zhì)量

5、測量其他設(shè)備

一臺設(shè)備測量後,關(guān)閉測量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測量下一臺設(shè)備。

6、測量結(jié)束

所有設(shè)備測量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測量狀態(tài),通過確定鍵可以進入功能菜單,如圖1。

ENOB=(SINAD-1.76dB)/6.2,其中1.76為理想ADC的量化噪聲,6.2為將log2轉(zhuǎn)化為log1的係數(shù)比。很明顯,SINAD越大,ENOB越大,而提升SINAD的方法就是重點關(guān)注與測試精度有關(guān)的電路。在數(shù)字示波器的架構(gòu)中,與測試精度有關(guān)的電路有:前端采集電路、ADC采樣電路。被測信號經(jīng)前端采集電路進行調(diào)理後傳輸給ADC進行采樣。其中前端采集電路及ADC采樣電路對ENOB有較大影響,實際工作時,偏置誤差,非線性誤差,增益誤差,隨機噪聲,甚至還有ADC交織引起的噪聲都會增大ENOB。ENOB說明了什麼ENOB是衡量ADC性能的標尺,若示波器ENOB指標好,那麼偏置誤差、增益誤差、非線性度等都較小,同時帶寬噪聲也較低。如果主要被測信號是正弦波信號,那麼ENOB就需要重點關(guān)注。通常示波器都由前端電路衰減器、放大器等信號調(diào)理電路、ADC采樣電路組成,在設(shè)計的時候,會在前端采用射頻技術(shù),頻率響應(yīng)方式,實現(xiàn)的頻響平坦度,以便ADC采樣時失真,增大ENOB指標。如何判斷ENOB的大小3.11.底噪示波器在不同垂直檔位及偏置下的底噪大小是評估示波器測量質(zhì)量的一個重要依據(jù),通過觀測底噪大小,可以判斷前端采集電路和ADC采樣電路設(shè)計的優(yōu)劣,因為示波器的底噪會增加額外的抖動並較小設(shè)計裕量,對測試結(jié)果造成較大的影響。sf6露點儀 sf6純度測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進入保存數(shù)據(jù)頁麵,保存數(shù)據(jù)時,可以根據(jù)設(shè)備進行編號。

設(shè)備編號多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進入查看記錄頁麵。

顯示時從後一個被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。什麼是轉(zhuǎn)矩波動?它對電機運行有什麼影響?如果有,影響有多大?它對我們生產(chǎn)生活有什麼意義?我們又該如何測試轉(zhuǎn)矩波動呢?接下來就讓我們具體了解一下轉(zhuǎn)矩波動。什麼是轉(zhuǎn)矩波動轉(zhuǎn)矩波動是工作機械傳動軸的時候出現(xiàn)扭矩的波動,與動力機械的工作能力、能源消耗、效率、運轉(zhuǎn)壽命及**性能等因素緊密聯(lián)係,轉(zhuǎn)矩的測量對傳動軸載荷的確定與控製、傳動係統(tǒng)工作零件的強度設(shè)計以及原動機容量的選擇等都具有重要的意義。通俗地講就是電機由於機械結(jié)構(gòu)和本身轉(zhuǎn)子慣量輸出一定轉(zhuǎn)矩的上下波動。sf6露點儀 sf6純度測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時間

在測量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時間,按“確定”鍵,進入修改時間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時間數(shù)值。

輸入小時、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個修改域內(nèi)。

 同時整個過程中CPU過多參與,大量消耗CPU性能,影響正常的數(shù)據(jù)計算。在RDMA模式下,應(yīng)用數(shù)據(jù)可以繞過Kernel協(xié)議棧直接向網(wǎng)卡寫數(shù)據(jù),帶來的顯著好處有:處理延時由數(shù)十微秒降低到1微秒內(nèi);整個過程幾乎不需要CPU參與,節(jié)省性能;傳輸帶寬更高。RDMA對於網(wǎng)絡(luò)的訴求RDMA在高性能計算、大數(shù)據(jù)、IO高並發(fā)等場景中應(yīng)用越來越廣泛。諸如iSICI,SAN,Ceph,MPI,Hadoop,Spark,Tensorflow等應(yīng)用軟件都開始部署RDMA技術(shù)。sf6露點儀 sf6純度測試儀 sf6冷鏡法露點儀 高質(zhì)量


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