HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6露點(diǎn)儀 氣體抽真空充放裝置 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)	測(cè)量範(fàn)圍	－80 ℃～+20 ℃
	測(cè)量精度	±1℃（－80℃～＋20℃）
	測(cè)量時(shí)間 （＋20℃）	<3分鐘。
環(huán)境溫度	－40℃～＋60℃

電子負(fù)載，顧名思義，是用電子器件實(shí)現(xiàn)的“負(fù)載”功能。具體地說，電子負(fù)載是通過控製內(nèi)部功率器件MOSFET或晶體管的導(dǎo)通量，使功率管耗散功率，消耗電能的設(shè)備。電子負(fù)載類似於可以拉載電流的輸入設(shè)備，如同一個(gè)可編程的功率電阻。直流電子負(fù)載應(yīng)用領(lǐng)域直流電子負(fù)載通過模擬實(shí)物負(fù)載和負(fù)載波形，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)電源供應(yīng)器規(guī)格特性的測(cè)試，也可以作為ATE或ATS係統(tǒng)的組成單元，在線對(duì)充電器、蓄電池等的壽命特性及功率電子元器件的參數(shù)特性進(jìn)行測(cè)試。1、連接SF₆設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好，用扳手?jǐn)Q緊，關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥；

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口；

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF₆電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好，用扳手?jǐn)Q緊；

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí)，請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量，如果電量低於約20％，請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥，然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量，把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右，開始測(cè)量SF₆露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要5～10分鐘，其後每臺(tái)設(shè)備需要3～5分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後，可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中，按“確定”鍵調(diào)出操作菜單，具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。一直以來，設(shè)計(jì)中的電磁乾擾（EMI）問題十分令人頭疼，尤其是在汽車領(lǐng)域。為了儘可能的減小電磁乾擾，設(shè)計(jì)人員通常會(huì)在設(shè)計(jì)原理圖和繪製布局時(shí)，通過降低高di/dt的環(huán)路麵積以及開關(guān)轉(zhuǎn)換速率來減小噪聲源。有時(shí)無論布局和原理圖的設(shè)計(jì)多麼謹(jǐn)慎，仍然無法將傳導(dǎo)EMI降低到所需的水平。這是因?yàn)樵肼暡粌H取決於電路寄生參數(shù)，還與電流強(qiáng)度有關(guān)。另外，開關(guān)打開和關(guān)閉的動(dòng)作會(huì)產(chǎn)生不連續(xù)的電流，這些不連續(xù)電流會(huì)在輸入電容上產(chǎn)生電壓紋波，從而增加EMI。

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後，關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF₆電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備，按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後，關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài)，通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單，如圖1。

說到測(cè)量長(zhǎng)度大家並不陌生，無論是裝修房子還是測(cè)量尺寸，很多時(shí)候都會(huì)遇到。通常我們都會(huì)使用米尺或卷尺進(jìn)行測(cè)量，這種傳統(tǒng)的方式耗時(shí)較長(zhǎng)，容易出現(xiàn)誤差。VH-8是世界上款雙向激光測(cè)距儀，與普通激光測(cè)距儀相比，它可以通過向被測(cè)量區(qū)域的兩端同時(shí)發(fā)射激光束，從而獲得的測(cè)量數(shù)值。VH-8可以從兩端分彆發(fā)射激光束，測(cè)量每束光反射到傳感器所花費(fèi)的時(shí)間。由於采用恒定光源，VH-8可以高精度地計(jì)算出自身與目標(biāo)之間的距離。

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵，保存數(shù)據(jù)時(shí)，可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位，可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小，“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後，按“確定”鍵，完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁，此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單，按“確定”鍵，進(jìn)入查看記錄頁麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。PID（PotentianInducedDegradation）是一種電勢(shì)誘導(dǎo)衰減現(xiàn)象，是指組件長(zhǎng)期在高電壓下使得玻璃，封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池表麵。使得電池表麵的鈍化效果惡化，導(dǎo)致填充因子（FF），短路電流（Isc），開路電壓（Voc）降低，使得組件的性能低於設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)，發(fā)電能力也隨之下降。2010年，NREL和Solon證實(shí)了無論組件采取何種技術(shù)的P型晶矽電池，組件在負(fù)偏壓下都有PID的風(fēng)險(xiǎn)。

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單，按“確定”鍵，可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài)，通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單，按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間，按“確定”鍵，進(jìn)入修改時(shí)間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值，“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後，按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 在該電源接入電網(wǎng)後，會(huì)對(duì)電網(wǎng)內(nèi)其他的用電設(shè)備產(chǎn)生影響，導(dǎo)致電網(wǎng)內(nèi)直流電源的輸出紋波較高，無法正常測(cè)試。即使移除地線的連接，將交直流源各自分開至很遠(yuǎn)的位置，並通過不同的空開接入後，乾擾依舊存在。某電源對(duì)電網(wǎng)內(nèi)直流源輸出乾擾波形而在相同的測(cè)試環(huán)境使用APM全天科技可編程交流電源後，直流源輸出純淨(jìng)穩(wěn)定，無任何影響。APM全天科技可編程交流電源通過嚴(yán)苛的EMC測(cè)試等級(jí)，符合歐盟電磁兼容指令214/3/EU/EN61326-1:213ClassA以及FCCCFR47第15部分的要求。