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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6微量水分測(cè)試儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量
sf6微量水分測(cè)試儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

傳統(tǒng)的微功率電源模塊采用自激推挽拓?fù)涞碾娐罚?、容性?fù)載、啟動(dòng)能力等各項(xiàng)性能之間的相互製約,如表1所示:?jiǎn)?dòng)能力與容性負(fù)載能力相互加強(qiáng)作用,而與電源轉(zhuǎn)換效率是相互製約的,啟動(dòng)能力強(qiáng)則電源轉(zhuǎn)換效率低。難以均衡、難以采用常規(guī)技術(shù)突破,導(dǎo)致成本高、性價(jià)比低;同時(shí)該拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)電路是無(wú)異常工況保護(hù)功能,在電路出現(xiàn)異常工作狀態(tài)時(shí),會(huì)導(dǎo)致電源模塊損壞,甚至導(dǎo)致災(zāi)難性的後果,而且行業(yè)內(nèi)的微功率電源模塊有如下三道難題:表1各性能相互製約表難題一:輸出短路保護(hù)與輸出特性市麵上支持短路保護(hù)的電源主要采用兩種方案,但均存在較大的缺陷:行業(yè)內(nèi)比較常用的方法是利用變壓器繞組分離的技術(shù)實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)期輸出短路保護(hù)功能,但采用這種方式帶來(lái)的後果是大大減低了產(chǎn)品的轉(zhuǎn)換效率、紋波噪聲較大並且提高了成本;采用自主磁芯技術(shù)實(shí)現(xiàn)可持續(xù)短路保護(hù),但為避免短路時(shí),後端重載會(huì)導(dǎo)致模塊損壞,因此輸出容性負(fù)載能力差。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其後每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。動(dòng)態(tài)數(shù)字I/O—GX5296,每引腳PMU功能,可以快速實(shí)現(xiàn)開短路以及DC測(cè)試;Hz的數(shù)據(jù)速率有助於實(shí)現(xiàn)AC測(cè)試,結(jié)合GtDIO6xEasy軟件,可以實(shí)現(xiàn)pattern文件的編寫以及導(dǎo)入,用於驗(yàn)證基本的功能性測(cè)試。靜態(tài)數(shù)字I/O——GX5733可以很好的實(shí)現(xiàn)切換功能以及環(huán)境變量控製;升級(jí)版ATE可以擴(kuò)展為256個(gè)動(dòng)態(tài)數(shù)字信道,128個(gè)靜態(tài)數(shù)字信道,的豐富了係統(tǒng)資源,有助於更大規(guī)模的量產(chǎn)測(cè)試。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

當(dāng)選取的諧振回路器件滿足振蕩器起振條件時(shí)振蕩器開始工作,VCO內(nèi)的有源器件等效構(gòu)成的負(fù)電阻部分所提供的能量能夠滿足諧振回路所消耗的能量則振蕩電路的振蕩條件能夠得以維持,VCO能夠正常工作。然而,VCO實(shí)際的工作狀態(tài)絕非理想狀態(tài),並不是設(shè)計(jì)時(shí)所假定的終端連接理想的50歐姆負(fù)載,因此其終端負(fù)載條件的變化會(huì)導(dǎo)致VCO出現(xiàn)輸出振蕩頻率發(fā)生變化的非線性現(xiàn)象,這就是頻率牽引,其表征參數(shù)為頻率牽引係數(shù)。從可以看出,從VCO輸出看去的阻抗變化會(huì)引起VCO的有源器件結(jié)上直流電壓的變化,也就是說(shuō),VCO輸出反射回來(lái)的信號(hào)功率能引起晶體管漏電流和偏置點(diǎn)的波動(dòng),導(dǎo)致該雙極型晶體管集電極與基極之間的電壓(Vcb)發(fā)生變化,影響集電極與基極之間的電容(Ccb),從而通過(guò)影響整個(gè)回路的諧振狀態(tài)和條件導(dǎo)致振蕩頻率和相位噪聲的改變。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。關(guān)於MOSFET很多人都不甚理解,這次小編再帶大家仔細(xì)梳理一下,也許對(duì)於您的知識(shí)係統(tǒng)更加。下麵是對(duì)MOSFET及MOSFET驅(qū)動(dòng)電路基礎(chǔ)的一點(diǎn)總結(jié),其中參考了一些資料。在使用MOS管設(shè)計(jì)開關(guān)電源或者馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路的時(shí)候,大部分人都會(huì)考慮MOS的導(dǎo)通電阻,電壓等,電流等,也有很多人僅僅考慮這些因素。這樣的電路也許是可以工作的,但並不是的,作為正式的產(chǎn)品設(shè)計(jì)也是不允許的。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)麵。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 RaytekMMMT測(cè)溫儀可以很巧妙地避免上述問(wèn)題的發(fā)生。它的優(yōu)勢(shì)集中在以下三個(gè)方麵:選擇正確波長(zhǎng)的儀器是在RaytekMMMT應(yīng)用成功的關(guān)鍵。波長(zhǎng)短原則可能不適用。如果火焰比較臟,RaytekMMMT傳感器將取得比較好的測(cè)溫效果。如果使用一個(gè)波長(zhǎng)較短的設(shè)備,火焰對(duì)測(cè)溫儀將有很大影響,產(chǎn)生一個(gè)較高的溫度。提供一個(gè)模擬輸出溫度,用戶可以在金屬在正確溫度時(shí)控製加熱的火焰。加熱周期可以被減少並減少過(guò)熱,產(chǎn)品溫度不合格情況是可以避免的。sf6微量水分測(cè)試儀 SF6分解產(chǎn)物測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)測(cè)試儀 高質(zhì)量


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