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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)
冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

露點(diǎn)

測(cè)量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

4151調(diào)製域儀具有的時(shí)間間隔測(cè)量功能及應(yīng)用演示如下:正時(shí)間間隔測(cè)量。4151調(diào)製域儀提供的正時(shí)間間隔測(cè)量功能,既可以實(shí)現(xiàn)單通道的連續(xù)周期測(cè)試,也可以實(shí)現(xiàn)雙通道之間的相對(duì)時(shí)間間隔測(cè)試,雙通道時(shí)間間隔測(cè)量需設(shè)置相對(duì)關(guān)係,AB或BA的正時(shí)間間隔測(cè)量。4151調(diào)製域儀正時(shí)間間隔的測(cè)量範(fàn)圍為4ns~8s,時(shí)間測(cè)量分辨率為5ps。正時(shí)間間隔測(cè)量演示上圖是用Tek公司的任意波形發(fā)生模擬了雷達(dá)發(fā)射與接收脈衝信號(hào)的正時(shí)間間隔測(cè)試結(jié)果,B通道輸入脈衝信號(hào)的周期為1us,相對(duì)延遲時(shí)間為ns。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其後每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。但是本身的儀器原理也包含了終將會(huì)被時(shí)代拋棄的硬傷。大抵有以下幾條:帶寬有限:這是致命硬傷。前麵已經(jīng)提到,模擬示波器的輸入信號(hào)是放大後直接控製CRT顯示屏的電子槍偏轉(zhuǎn)。雖然放大器的帶寬可以越來預(yù)高,但是CRT電子槍的偏轉(zhuǎn)速度是有限的,對(duì)於高頻信號(hào),電子槍的速度跟不上信號(hào)變化。當(dāng)前模擬示波器帶寬真的很難做上去。無法存儲(chǔ)和:很多老工程師非常清楚,用模擬示波器保存波形是要拿相機(jī)拍照的,如果要測(cè)幅度、周期、上升時(shí)間,隻能手動(dòng)去搞。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

RaytekMMMT測(cè)溫儀巧妙避免火焰測(cè)溫過程中可能會(huì)產(chǎn)生的測(cè)量偏差,限度節(jié)省成本並提高生產(chǎn)效率。(金屬退火與淬火應(yīng)用)結(jié)構(gòu)鋼和金屬形狀被製造出來以後,金屬的特定部分需要進(jìn)行退火或回火處理。,工字鋼的兩端必須經(jīng)過退火處理以防止在施工現(xiàn)場(chǎng)一個(gè)工字鋼與另一個(gè)連接時(shí)發(fā)生損壞。另一個(gè)例子是摩托車的啟動(dòng)踏板,啟動(dòng)踏板的中心位置需要經(jīng)過回火處理,以承受當(dāng)有人試圖啟動(dòng)摩托車時(shí)產(chǎn)生的過矩。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。日常我們經(jīng)常用的方法有光譜測(cè)溫技術(shù)、全息乾涉測(cè)溫技術(shù)、基於CCD的三基色測(cè)溫技術(shù)、以及如下所示的紅外輻射測(cè)溫技術(shù):.非接觸式紅外熱成像儀接觸式測(cè)量法接觸式測(cè)溫儀溫度一般有熱電偶和熱電阻兩種:熱電偶的工作原理是基於塞貝克(seeback效應(yīng)),兩種不同成分的導(dǎo)體兩端連接成回路,如兩連接端溫度不同,則在回路內(nèi)產(chǎn)生熱電流的物理現(xiàn)象,利用此現(xiàn)象來測(cè)量溫度。熱電阻的測(cè)量原理是根據(jù)溫度變化時(shí)本身電阻也變化的特性來測(cè)量溫度。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁麵。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 我們可以想象一臺(tái)具有實(shí)驗(yàn)室儀器的性能的、由電池供電的手持式光譜儀。屆時(shí),很多目前無法支持的應(yīng)用都能夠被實(shí)現(xiàn)。傳統(tǒng)光譜方法大多數(shù)色散紅外(IR)光譜測(cè)量在開始時(shí)都采用同樣的測(cè)量方式。將被的光穿過一個(gè)小狹縫,它與控製儀器分辨率的光柵組合在一起。這個(gè)衍射光柵是一個(gè)專門設(shè)計(jì)用於以已知角度反射不同波長光的元件。這些波長的空間分離使得其它係統(tǒng)能夠以波長為基礎(chǔ)測(cè)量光強(qiáng)度。光譜測(cè)量的傳統(tǒng)架構(gòu)的主要差彆在於色散光的測(cè)量方式。冷鏡法露點(diǎn)儀 密度繼電器測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 30年經(jīng)驗(yàn)


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