HNCJ係列雷電衝擊電壓發(fā)生裝置
雷電衝擊電流發(fā)生器HNHY 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修產(chǎn)品簡介：

衝擊電壓發(fā)生器主要用於電力設(shè)備等試品進(jìn)行雷電衝擊電壓全波、雷電衝擊電壓截波和操作衝擊電壓波的衝擊電壓試驗(yàn)，檢驗(yàn)絕緣性能。衝擊電壓發(fā)生器一種模仿雷電及操作過電壓等衝擊電壓的電源裝置。主要用於絕緣衝擊耐壓及介質(zhì)衝擊擊穿、放電等試驗(yàn)中。

適用範(fàn)圍：變壓器、電抗器、互感器及其它高壓電器、高壓晶閘管閥SVC(HVDC)、電力電纜、各類高壓絕緣子、套管等試品的標(biāo)準(zhǔn)雷電衝擊，雷電截斷波，操作衝擊及用戶要求的非標(biāo)準(zhǔn)衝擊波的各類衝擊電壓試驗(yàn)。一套設(shè)備就可產(chǎn)生多種試驗(yàn)波形（標(biāo)準(zhǔn)的和非標(biāo)準(zhǔn)的波形，用戶提出來的波形）。 適用領(lǐng)域：質(zhì)檢鑒定計(jì)量檢測監(jiān)督機(jī)構(gòu)，電力設(shè)備製造廠，鐵路通信，航天和航天飛行器,科研單位，大專院校以及氣象等部門的防雷和雷電試驗(yàn)。繼電器可以阻擋部分的損害，但是隨著係統(tǒng)的使用，繼電器使用的壽命將會大大地縮短。就算正確地操作係統(tǒng)，但是如果進(jìn)行一些故障的設(shè)備測試，這個也會給開關(guān)係統(tǒng)造成很大的壓力。開關(guān)故障診斷方法由於開關(guān)係統(tǒng)的易損性，這就要求用戶采用一些針對開關(guān)係統(tǒng)的測試檢驗(yàn)的方式。在一些平臺上，VXI，就曾經(jīng)提供過一些繼電器的檢測的方法。這個方法包括了能夠一些不太協(xié)調(diào)的自檢方式，有時候它隻是檢測控製係統(tǒng)，而不是繼電器的連接（其實(shí)這部分是很容易損壞的）。

產(chǎn)品彆稱：衝擊電壓發(fā)生器，雷電衝擊電壓發(fā)生器試驗(yàn)裝置，雷電衝擊電流發(fā)生器，電壓發(fā)生器試驗(yàn)裝置

Atmel、賽普拉斯、Microchip和NXP等多家公司已經(jīng)把部分用戶可定義邏輯添加到自己的部件上，用於修複部分此類問題。這些器件主要是帶附加邏輯的微控製器。CPU仍然是主要的處理器件，附加邏輯的作用是提高CPU的工作效率。這類器件常見於成本敏感性產(chǎn)品中，但也在低級任務(wù)中用作小型協(xié)處理器，以減輕主處理器的負(fù)擔(dān)，從而提升效率。另一方麵FPGA也正在朝著類似的目標(biāo)前進(jìn)，雖然是從另一個方向。賽靈思和Altera多年來一直在添加軟硬核處理器以創(chuàng)建片上係統(tǒng)。
HNCJ-V 雷電衝擊電壓發(fā)生裝置產(chǎn)品特征

1、回路電感小，並采取帶阻濾波措施，在大電容量負(fù)載下能產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)衝擊波，負(fù)載能力大。

2、電壓利用係數(shù)高，雷電波和操作波分彆不低於85%和80%。

3、調(diào)波方便，操作簡單，同步性能好，動作可靠。如果將“L”和“E”接反了，流過絕緣體內(nèi)及表麵的漏電流經(jīng)外殼彙集到地，由地經(jīng)“L”流進(jìn)測量線圈，使“G”失去作用而給測量帶來很大誤差。另外，因?yàn)椤癊”端內(nèi)部引線同外殼的絕緣程度比“L”端與外殼的絕緣程度要低，當(dāng)兆歐表放在地上使用時，采用正確接線方式時，“E”端對儀表外殼和外殼對地的絕緣電阻，相當(dāng)於短路，不會造成誤差，而當(dāng)“L”與“E”接反時，“E”對地的絕緣電阻同被測絕緣電阻並聯(lián)，而使測量結(jié)果偏小，給測量帶來較大誤差。雷電衝擊電流發(fā)生器HNHY 超低頻耐壓試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修

4、采用恒流充電自動控製技術(shù)，自動化程度高，抗乾擾能力強(qiáng)。