HNDL20KA型直流開關(guān)試驗(yàn)裝置 地鐵直流開關(guān)試驗(yàn)裝置HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修
利用計(jì)算機(jī)控製技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計(jì)的一種大電流低電壓直生裝置，主要用於直流開關(guān)的檢測試驗(yàn)，如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗(yàn)、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等，並自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。電機(jī)直接啟動危害及避免方式目前在工礦企業(yè)中使用著大量的交流異步電機(jī)，大部分電機(jī)均采用直接啟動的方式，這種啟動方式非常簡單，但是會帶來很大的危害。電網(wǎng)衝擊：過大的啟動電流（空載啟動電流可達(dá)額定電流的4~7倍，帶載啟動時可達(dá)8~10倍或更大），會造成電網(wǎng)電壓下降，影響其它用電設(shè)備的正常運(yùn)行，還可能使欠壓保護(hù)動作，造成設(shè)備的有害跳閘。同時過大的啟動電流會使電機(jī)繞組發(fā)熱，從而加速絕緣老化，影響電機(jī)壽命。

應(yīng)用：

    HNDL20KA型直流開關(guān)試驗(yàn)裝置是專門設(shè)計(jì)用於對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護(hù)裝置進(jìn)行功能試驗(yàn)的設(shè)備，通過模擬輸出故障電流或過負(fù)荷電流，測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護(hù)裝置特性。在該模式下，可有效觀察到偶爾發(fā)生的窄脈寬，在捕獲高頻率的毛刺方麵非常實(shí)用，可獲取信號的包絡(luò)或可能丟失的窄脈衝，使用峰值捕獲模式會使波形顯示的噪聲比較明顯。峰值捕獲模式平均捕獲模式個就是平均捕獲模式了，這個名字也非常容易理解，就是采集N屏信號，將它們在觸發(fā)位置對其，然後做平均運(yùn)算。使用平均捕獲模式，在減小噪聲同時保持了原有的帶寬，將噪聲濾除有利於對信號進(jìn)行測量。適用於觀測周期性重複信號，其濾波效果提升了示波器的垂直分辨率。

特點(diǎn)：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗(yàn)裝置由嵌入式微機(jī)係統(tǒng)控製，輸出電流的波形、幅值可通過人機(jī)界麵準(zhǔn)確控製。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計(jì)算、顯示直流開關(guān)的動作時間，並能存儲、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗(yàn)裝置標(biāo)準(zhǔn)波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準(zhǔn)確：按預(yù)先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差隻有2%。模擬傳感器輸出的一般都是小信號，都存在小信號放大、處理、整形以及抗乾擾問題，也就是將傳感器的微弱信號地放大到所需要的統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)信號(如1VDC～5VDC或4mADC～20mADC)，並達(dá)到所需要的技術(shù)指標(biāo)。這就要求設(shè)計(jì)製作者必須注意到模擬傳感器電路圖上未表示出來的某些問題，即抗乾擾問題。隻有搞清楚模擬傳感器的乾擾源以及乾擾作用方式，設(shè)計(jì)出消除乾擾的電路或預(yù)防乾擾的措施，才能達(dá)到應(yīng)用模擬傳感器的狀態(tài)。

測量及計(jì)時精度高：輸出電流、開關(guān)接點(diǎn)動作狀態(tài)通過測量回路測量並以圖形方式在顯示器上顯示，準(zhǔn)確計(jì)算有關(guān)參數(shù)，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護(hù)電路完善：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗(yàn)裝置有完善的保護(hù)電路,如過流速斷保護(hù)、過流超時保護(hù)等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗(yàn)裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計(jì)：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗(yàn)裝置采用模塊化設(shè)計(jì)，特彆是2號櫃的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護(hù)和使用。根據(jù)用戶需要，可定製10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗(yàn)裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）複雜係統(tǒng)的調(diào)試和驗(yàn)證麵臨許多測試技術(shù)挑戰(zhàn)，包括捕獲和可視化多個不頻繁或間斷出現(xiàn)的事件，如串行數(shù)據(jù)包、激光脈衝和故障信號。為了準(zhǔn)確地測量和表征這些信號，必須在長時間內(nèi)以高采樣率捕獲它們。示波器的默認(rèn)采集模式因?yàn)槠溆邢薜挠涗涢L度會強(qiáng)製在采樣率和捕獲時間進(jìn)行妥協(xié)。使用更高的采樣率可以更快地填充儀器的內(nèi)存，減少數(shù)據(jù)采集的時間窗口。相反，捕獲長時間的數(shù)據(jù)通常是以犧牲水平時間分辨率(采樣率)為代價(jià)的。Fastframe?分段存儲模式讓您不用再從定時分辨率與捕獲時間之間做選擇。