HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置 直流開關(guān)試驗設(shè)備HNDL 大電流溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗
利用計算機(jī)控製技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計的一種大電流低電壓直生裝置，主要用於直流開關(guān)的檢測試驗，如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等，並自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)?？吹竭@裡我相信大部分人已經(jīng)可以找到自己想要看的波形了。但是想要把波形存儲記錄下來怎麼辦，而且想要長時間記錄可以實現(xiàn)嗎？不要急，PA功率儀還提供波形保存記錄功能。如所示，PA功率儀點(diǎn)擊“store”按鍵會進(jìn)入圖示菜單，在數(shù)據(jù)類型中可以選擇“波形”或“波形+數(shù)據(jù)”以記錄保存波形。設(shè)置完成後，點(diǎn)擊“開始”按鍵進(jìn)行存儲，存儲結(jié)束點(diǎn)擊“停止”、“重置”即可保存。而且PA功率儀內(nèi)置6G固態(tài)硬盤，可以滿足長時間存儲波形的需要。

應(yīng)用：

    HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置是專門設(shè)計用於對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護(hù)裝置進(jìn)行功能試驗的設(shè)備，通過模擬輸出故障電流或過負(fù)荷電流，測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護(hù)裝置特性。所示是門控本振的工作框圖，門控信號控製著掃描發(fā)生器什麼時候掃描，什麼時候通過信號，這就使得451隻在門選通期間測量信號頻譜。因此隻要控製著451在f1頻率期間測量信號頻譜，即可獲得跳頻源在f1頻率周圍的雜散頻譜。門控本振工作原理圖方法一：外部觸發(fā)門控信號測試雜散時間門功能測試跳頻源雜散連接圖跳頻源射頻輸出接入到451的射頻輸入端口，當(dāng)跳頻源工作在f1頻點(diǎn)時，提供一個同步觸發(fā)信號給451的門控輸入端口。

特點(diǎn)：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置由嵌入式微機(jī)係統(tǒng)控製，輸出電流的波形、幅值可通過人機(jī)界麵準(zhǔn)確控製。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計算、顯示直流開關(guān)的動作時間，並能存儲、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標(biāo)準(zhǔn)波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準(zhǔn)確：按預(yù)先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差隻有2%。GLTE時代的測量由於MIMO的引入而變得更加複雜，3GPP標(biāo)準(zhǔn)委員會采納了兩種測量方式：多法，輻射兩步法，這兩種方案都可以測量UE在衰落信道下的吞吐量指標(biāo)。MPAC所需的基本設(shè)備包括吸波暗室，無線測試平臺，信道模擬器，多組天線及轉(zhuǎn)盤；RTS測量方案所需的基本設(shè)備包括吸波暗室，無線測試平臺，一組天線，衰落信道由UXM內(nèi)部的通道模擬器實現(xiàn)。

測量及計時精度高：輸出電流、開關(guān)接點(diǎn)動作狀態(tài)通過測量回路測量並以圖形方式在顯示器上顯示，準(zhǔn)確計算有關(guān)參數(shù)，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護(hù)電路完善：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置有完善的保護(hù)電路,如過流速斷保護(hù)、過流超時保護(hù)等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置采用模塊化設(shè)計，特彆是2號櫃的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護(hù)和使用。根據(jù)用戶需要，可定製10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）使用感應(yīng)式試電筆進(jìn)行檢測。接地會對儀器的通信產(chǎn)生乾擾。雖然功率儀設(shè)備通道間都是帶有隔離的，但根據(jù)物理規(guī)律，兩個絕緣導(dǎo)體之間會形成電容，高頻信號是可以通過的，接地，會導(dǎo)致外部的乾擾竄到機(jī)器內(nèi)部，如果此時乾擾過大，而機(jī)器通訊正好處於重要數(shù)據(jù)傳輸時，將會影響機(jī)器內(nèi)部通訊，輕者導(dǎo)致測試不準(zhǔn)確，嚴(yán)重則導(dǎo)致機(jī)器通訊中斷。在接地的情況下，給機(jī)器大規(guī)模的乾擾模擬，終導(dǎo)致機(jī)器通訊失敗，主機(jī)與子卡間的PCIE通信異常。