HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置 直流開關(guān)試驗裝置HNDL 三相溫升試驗裝置 容量大 30年經(jīng)驗
利用計算機控製技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計的一種大電流低電壓直生裝置，主要用於直流開關(guān)的檢測試驗，如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等，並自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。所以，真正的RJ可能隻占高斯模型的抖動的一部分，測量中RJ可能被放大了，同時總抖動也會被放大。抖動測量時鐘抖動通常有三種測量方法，對應(yīng)於TIE(TimeIntervalError時間間隔誤差)、period(周期抖動)和Cycle-Cycle(相鄰周期抖動)三種抖動指標。TIE抖動(時間間隔誤差)，以被測時鐘沿與理想時鐘沿之間的時間差為樣本，即以圖中的TIEn為樣本，通過對很多個樣本進行統(tǒng)計，表征時鐘沿與理想時鐘沿偏離值的變化、分布情況，如下圖所示：PeriodJitter(周期抖動)，以時鐘信號的周期做樣本，即以圖中的Pn做樣本，通過對很多個樣本進行統(tǒng)計，表征時鐘信號周期Pn的變化、分布情況，對於保證數(shù)字係統(tǒng)中的建立保持時間規(guī)範很有意義。

應(yīng)用：

    HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置是專門設(shè)計用於對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設(shè)備，通過模擬輸出故障電流或過負荷電流，測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護裝置特性。按相等時間間隔對信號采樣以重建波形，具體原理圖如圖1所示。適用場景：對波形捕獲模式無要求時使用。標準捕獲模式原理峰值捕獲模式在該模式下，示波器至少能顯示出來與采樣周期一樣寬的所有脈衝。原理：采集到采樣間隔信號的值和值，具體原理圖如圖2所示。適用場景：捕獲可能丟失的窄脈衝和高頻率的毛刺。注意事項：雖然該模式可避免信號混淆，但顯示的噪聲較大。圖2峰值捕獲模式原理平均捕獲模式在該模式下，可先設(shè)置一個平均次數(shù)N，具體設(shè)置方法為：在示波器前麵板上按下Acquire鍵，按下平均次數(shù)菜單軟鍵，通過調(diào)節(jié)A/B旋鈕設(shè)置平均次數(shù)的數(shù)值。

特點：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置由嵌入式微機係統(tǒng)控製，輸出電流的波形、幅值可通過人機界麵準確控製。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計算、顯示直流開關(guān)的動作時間，並能存儲、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準確：按預先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差隻有2%。無處不在的噪聲是射頻和微波設(shè)計師的敵人，對此不應(yīng)感到驚奇。噪聲限製了通信接收器檢測弱信號的能力，從而妨礙設(shè)計師實現(xiàn)的接收器性能。傳輸信號中的噪聲惡化了性能，不僅是對傳輸信號，而且同樣是對周圍的頻譜。由於噪聲是普遍存在的，多年以前，射頻和微波行業(yè)就建立了一個稱為噪聲係數(shù)的測量參數(shù)，以定量元件或係統(tǒng)給通過它的信號增加了多少噪聲。雖然噪聲係數(shù)是一種用於描述射頻和微波係統(tǒng)噪聲和接收器靈敏度的參數(shù)，但它也是重要和廣泛使用的參數(shù)。

測量及計時精度高：輸出電流、開關(guān)接點動作狀態(tài)通過測量回路測量並以圖形方式在顯示器上顯示，準確計算有關(guān)參數(shù)，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護電路完善：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置采用模塊化設(shè)計，特彆是2號櫃的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護和使用。根據(jù)用戶需要，可定製10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）20世紀80年始，非製冷紅外焦平麵陣列探測器在美國支持下發(fā)展起來的，在1992年研發(fā)完成後才對布。初期技術(shù)路線包括德州儀器研製的BST熱釋電探測器和霍尼韋爾研製的氧化釩（VOx）微測輻射熱計探測器。後來由於熱釋電技術(shù)本身的一些局限性，微測輻射熱計探測器逐漸勝出。2009年，L-3公司終宣布停止繼續(xù)生產(chǎn)熱釋電探測器。之後，法國的CEA/LETI以及德州儀器公司又分彆研製了非晶矽（a-Si）微測輻射熱計探測器。