HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置 直流斷路器試驗設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗
利用計算機控製技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計的一種大電流低電壓直生裝置，主要用於直流開關(guān)的檢測試驗，如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等，並自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。OTN端到端5G承載方案測試采用的ZXMPM721設(shè)備，是中興通訊E-OTN（端到端，彈性，增強OTN）係列產(chǎn)品中的一員，在多個運營商有著廣泛的商用，具有體積小、容量大、配置組合多、組網(wǎng)靈活的特點，可實現(xiàn)光電混合調(diào)度，同時支持ODU、PKT、VC等多業(yè)務(wù)接入和交換，適合在城域邊緣統(tǒng)一承載移動寬帶、固網(wǎng)寬帶、集客專線等多種業(yè)務(wù)。中興通訊光傳送產(chǎn)品總經(jīng)理陳宇飛表示：“中興通訊端到端E-OTN解決方案，助力運營商以光速開展5G服務(wù)，不僅帶來帶寬和流量的大幅提速，還帶來了零等待的用戶體驗”。

應(yīng)用：

    HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置是專門設(shè)計用於對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設(shè)備，通過模擬輸出故障電流或過負荷電流，測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護裝置特性。先來看看電容，電容的作用簡單的說就是存儲電荷。我們都知道在電源中要加電容濾波，在每個芯片的電源腳放置一個0.1uF的電容去耦。等等，怎麼我看到要些板子芯片的電源腳旁邊的電容是0.1uF的或者0.01uF的，有什麼講究嗎。要搞懂這個道道就要了解電容的實際特性。理想的電容它隻是一個電荷的存儲器，即C。而實際製造出來的電容卻不是那麼簡單，電源完整性的時候我們常用的電容模型如下圖所示。圖中ESR是電容的串聯(lián)等效電阻，ESL是電容的串聯(lián)等效電感，C才是真正的理想電容。

特點：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置由嵌入式微機係統(tǒng)控製，輸出電流的波形、幅值可通過人機界麵準確控製。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計算、顯示直流開關(guān)的動作時間，並能存儲、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準確：按預(yù)先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差隻有2%?？蛻魧ξ覀兲岢?，德圖是否可以在不同的燃燒效率的工況下，同時測量NH3以及氮氧化物，需要將氮氧化物的脫硝效率達到，使得NH3的逃逸量到。解決方案現(xiàn)有市麵上的方法：針對固定汙染源的氮氧化物以及氧氣的測量，是十分容易解決的。但是在測量正常6組分氣體的情況下還需要測量NH3氨逃逸的情況，則無法滿足。德圖解決方案：testo37不單單可以測量固定的6組分汙染物：OCO、NO、NOSOCO2，還可以測量NH3，而且德圖testo37高精度紅外煙氣儀持續(xù)加熱2℃的測量室，不會出現(xiàn)銨鹽，因為在高溫下，銨鹽也可以分解成NH3和酸性氣體。

測量及計時精度高：輸出電流、開關(guān)接點動作狀態(tài)通過測量回路測量並以圖形方式在顯示器上顯示，準確計算有關(guān)參數(shù)，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護電路完善：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置采用模塊化設(shè)計，特彆是2號櫃的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護和使用。根據(jù)用戶需要，可定製10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）MOX傳感器MCM設(shè)備的組成。測試係統(tǒng)需求為了測試這些設(shè)備，測試係統(tǒng)需要具備以下功能和屬性：測試/校準MOX傳感器的時間可能需要幾十分鐘。由於需要在真空和目標氣體“浸泡”傳感器，所以需要很長的“soak”時間。顯然，使用大型、高性能的半導(dǎo)體測試儀，在soak期間需要閒置一段時間，這樣不能有效的利用這些昂貴的資源。所以，解決方案必須具有較低的初始資本成本。測試吞吐量很重要。由於駐留時間長，因此係統(tǒng)必須支持非常大的並行測試能力，這樣才能將soak時間內(nèi)分攤到多個設(shè)備上DUT負載板必須位於一個可以對氣體濃度進行控製的封閉環(huán)境中。