HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置 直流大電流發(fā)生器HNDL JP櫃溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗
利用計算機控製技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計的一種大電流低電壓直生裝置，主要用於直流開關(guān)的檢測試驗，如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等，並自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。晚上看書的時候電燈突然一閃一閃的？又是閃變在作怪了。那什麼是閃變呢？為什麼會產(chǎn)生閃變呢？下麵我們先從理論的方麵來理性的認識閃變，然後通過一個實際的案例來感性的感受一下閃變在現(xiàn)實生活中的存在。閃變的定義閃變是人眼對燈光亮度變化所引起刺激的不穩(wěn)定感。即人對亮度變化的不適感。IEC61000-4-15規(guī)定了“燈—眼—腦”模型來衡量，反映了大多數(shù)人如何受閃爍白熾燈的影響。閃變的影響閃變的產(chǎn)生多數(shù)是因為電網(wǎng)電壓變動導致照明亮度發(fā)生變化。

應用：

    HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置是專門設(shè)計用於對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設(shè)備，通過模擬輸出故障電流或過負荷電流，測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護裝置特性。HIOKI冬季新產(chǎn)品，熱流數(shù)據(jù)采集儀LR8432。該款數(shù)采與以往的便攜式數(shù)采有著相似的外觀，但在功能上卻有著與不同的地方?！盁崃鳌睖y量功能，了解何為“熱流?！睙崃鳎杭础盁崃髁俊?，是一定麵積的物體兩側(cè)存在溫差時，單位時間內(nèi)由導熱、對流、輻射方式通過該物體所傳遞的熱量。通俗來講，溫度變化時，勢必包含熱能的移動。熱能是溫度變化所釋放的能量，與水和電相同由高到低的轉(zhuǎn)移。這種熱能移動的程度即用“熱流”來表示，單位時間單位麵積流。

特點：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置由嵌入式微機係統(tǒng)控製，輸出電流的波形、幅值可通過人機界麵準確控製。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計算、顯示直流開關(guān)的動作時間，並能存儲、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準確：按預先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差隻有2%。工業(yè)使用的儀器，使用一定時期後，將滿足產(chǎn)品老化，老化的試驗和環(huán)境試驗，它可以檢測早期文書的一個潛在故障，準備的解決方案和解決方案，尤其是可以發(fā)現(xiàn)的常見故障，所以相同的儀器設(shè)備早期通過修改電路和方法恢複，有助於提高耐久性和可靠性的工具。老化測試一般的老化測試時對部分儀器儀表進行長時間通電運行，並測量其平均無故障工作時間，總結(jié)這些儀器儀表的故障特點，找出它們的共性問題加以解決。環(huán)境試驗環(huán)境試驗一般根據(jù)儀器儀表的工作環(huán)境而確定具體的試驗內(nèi)容，並按照規(guī)定的方法進行試驗。

測量及計時精度高：輸出電流、開關(guān)接點動作狀態(tài)通過測量回路測量並以圖形方式在顯示器上顯示，準確計算有關(guān)參數(shù)，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護電路完善：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置采用模塊化設(shè)計，特彆是2號櫃的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護和使用。根據(jù)用戶需要，可定製10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）無論是實驗室環(huán)境還是生產(chǎn)車間，都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰(zhàn)略重點。我們正在擴展我們的軟件平臺和PXI功能，以幫助芯片製造商應對他們麵臨的挑戰(zhàn)，這一點通過NI的PXISMU可以完全體現(xiàn)出來?！庇伸镀涓咄掏铝俊⒏咝詢r比和占地麵積小，NI的半導體測試係統(tǒng)(STS)正在快速應用到芯片生產(chǎn)中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站點應用具有更高的並行性，以及在生產(chǎn)中提供實驗室級彆的測量質(zhì)量。