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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:地鐵直流大電流電源HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。地鐵直流大電流電源HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL20KA型直流開關(guān)試驗(yàn)裝置 地鐵直流大電流電源HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
地鐵直流大電流電源HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)利用計(jì)算機(jī)控製技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計(jì)的一種大電流低電壓直生裝置,主要用於直流開關(guān)的檢測試驗(yàn),如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗(yàn)、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動(dòng)作時(shí)間測試等,並自動(dòng)記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。MSOP-8封裝線性穩(wěn)壓器的溫度上升使得結(jié)溫高於125℃的標(biāo)準(zhǔn)集成電路(IC)結(jié)溫,而根據(jù)45°C/WR?JA,LMZM2361的結(jié)溫為9°C。即使將R?JA乘以係數(shù)5,得到的Tj值仍然低於該結(jié)溫。從這個(gè)例子可以看出,很明顯從熱能角度來看,線性穩(wěn)壓器並非可行的方案。采用開關(guān)方案進(jìn)行權(quán)衡(即使是采用LMZM2361等模塊)意味著必須要考慮輸出紋波。如所示,標(biāo)準(zhǔn)LMZM2361設(shè)計(jì)3.3V輸時(shí)的輸出紋波峰峰值約為3mV。

地鐵直流大電流電源HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

應(yīng)用:

    HNDL20KA型直流開關(guān)試驗(yàn)裝置是專門設(shè)計(jì)用於對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護(hù)裝置進(jìn)行功能試驗(yàn)的設(shè)備,通過模擬輸出故障電流或過負(fù)荷電流,測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時(shí)特性,測試隔離放大器特性和保護(hù)裝置特性。上述零部件在生產(chǎn)製造過程中,必須經(jīng)過一係列的渦流探傷儀無損檢測。常用的汽車零部件無損檢測有射線檢測、超聲檢測、電磁渦流檢測、磁粉檢測和滲透檢測,亦稱五大探傷方法。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,常用的這五大無損檢測方法本身也在不斷地發(fā)展,如X射線實(shí)時(shí)成像、自動(dòng)磁粉探傷判傷係統(tǒng)、渦流探傷儀漏磁自動(dòng)探傷係統(tǒng)、新型滲透材料的問世等。除此之外,無損檢測還增添了新的方法,如聲發(fā)射、微波、紅外、全息照相、光彈顯示等被稱為新五大檢測方法。

特點(diǎn):

智能化及圖形顯示:HNDL20KA型直流開關(guān)試驗(yàn)裝置由嵌入式微機(jī)係統(tǒng)控製,輸出電流的波形、幅值可通過人機(jī)界麵準(zhǔn)確控製。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示,可方便計(jì)算、顯示直流開關(guān)的動(dòng)作時(shí)間,並能存儲(chǔ)、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇:理論上輸出波形可有任意多種。本試驗(yàn)裝置標(biāo)準(zhǔn)波形配置為常用的指數(shù)曲線,該曲線的幅值、時(shí)間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準(zhǔn)確:按預(yù)先設(shè)定的波形參數(shù)輸出,綜合誤差隻有2%。基於電學(xué)法的熱瞬態(tài)測試技術(shù)1.測試方法:電學(xué)法尋找器件內(nèi)部具有溫度敏感特性的電學(xué)參數(shù),通過測量該溫度敏感參數(shù)(TSP)的變化來得到結(jié)溫的變化。TSP的選擇:一般選取器件內(nèi)PN結(jié)的正向結(jié)電壓。測試技術(shù):熱瞬態(tài)測試當(dāng)器件的功率發(fā)生變化時(shí),器件的結(jié)溫會(huì)從一個(gè)熱穩(wěn)定狀態(tài)變到另一個(gè)穩(wěn)定狀態(tài),T3Ster將會(huì)記錄結(jié)溫瞬態(tài)變化過程(包括升溫過程與降溫過程)。一次測試,既可以得到穩(wěn)態(tài)的結(jié)溫?zé)嶙钄?shù)據(jù),也可以得到結(jié)溫隨著時(shí)間的瞬態(tài)變化曲線。

測量及計(jì)時(shí)精度高:輸出電流、開關(guān)接點(diǎn)動(dòng)作狀態(tài)通過測量回路測量並以圖形方式在顯示器上顯示,準(zhǔn)確計(jì)算有關(guān)參數(shù),電流測量精度為2%,時(shí)間測量精度為1mS

保護(hù)電路完善:HNDL20KA型直流開關(guān)試驗(yàn)裝置有完善的保護(hù)電路,如過流速斷保護(hù)、過流超時(shí)保護(hù)等。

接線方便:HNDL20KA型直流開關(guān)試驗(yàn)裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連,注意不得隨意采用其它電纜。地鐵直流大電流電源HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

模塊化設(shè)計(jì):HNDL20KA型直流開關(guān)試驗(yàn)裝置采用模塊化設(shè)計(jì),特彆是2號櫃的降壓整流輸出單元,每一個(gè)模塊的輸出電流為5000A,方便維護(hù)和使用。根據(jù)用戶需要,可定製10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗(yàn)裝置(HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA)無校驗(yàn)位,8位數(shù)據(jù)位,串口時(shí)序圖如所示為STM32串口外設(shè)檢測到起始位的條件,當(dāng)檢測到下降沿(3個(gè)高電平+1個(gè)低電平)並且采樣序列1和采樣序列2均為0時(shí),STM32檢測到一個(gè)起始位。每個(gè)位采樣16次,采樣點(diǎn)的間隔時(shí)間為tbit/16,tbit為每個(gè)位的時(shí)間,通信波特率為115.2kbps,則tbit=1/115.2k=8.68us,則采樣點(diǎn)的間隔時(shí)間為8.68us/16=0.5425us。STM32串口外設(shè)檢測到起始位的條件下麵以RSM485PCHT的門限電平為例進(jìn)行說明,當(dāng)AB差分電壓處於±200mV之內(nèi)時(shí),模塊RXD引腳輸出狀態(tài)不確定。地鐵直流大電流電源HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

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