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HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置 直流斷路器試驗裝置HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 5年保修
利用計算機控製技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計的一種大電流低電壓直生裝置,主要用於直流開關(guān)的檢測試驗,如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等,並自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。如果我們用積分法和光度法去測試同一個燈,對比測試結(jié)果我們會發(fā)現(xiàn)二者測試的總光通量數(shù)據(jù)有較大差異。本文重點講述的是LED燈具在積分球和分布式光度計中流明測試的差異。積分法測試總光通量的原理是通過光通量標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)。由於用標(biāo)準(zhǔn)燈校準(zhǔn),所以不必知道球體的光譜輸出量,被測LED燈產(chǎn)品的光通量φTEST(λ)是與標(biāo)準(zhǔn)燈比較計算出來的。通常來講積分法適合用於小型集成LED燈具和相對較小的LED光源測試總光通量和色度參數(shù),這是總光通量的相對測試方法,采用積分法具有測量速度快和無需暗室的優(yōu)點,通常體積越小,越接近於點光源的燈具測試結(jié)果越準(zhǔn)確。
應(yīng)用:
HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置是專門設(shè)計用於對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設(shè)備,通過模擬輸出故障電流或過負荷電流,測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性,測試隔離放大器特性和保護裝置特性。研究小組設(shè)計了一個由四臺RGB攝像機和四臺紅外熱像儀組成的係統(tǒng),這些攝像機的布置方式使拍攝圖像能夠重疊,以生成3D熱圖像和3D地理數(shù)據(jù)。再使用標(biāo)準(zhǔn)軟件對這些數(shù)據(jù)進行和評估。為了創(chuàng)建該係統(tǒng),研究小組選擇了四臺FLIRA65sc紅外熱像儀以及選自另一家製造商的四臺緊湊型RGB攝像機,這些攝像機都能生成約5百萬像素的圖像。Kaubitzsch研究小組使用FLIRA65sc紅外熱像儀,“由於其良好的64512像素?zé)岢上穹直媛省?Hz的幀頻、以太網(wǎng)端口以及16x443mm的緊湊型尺寸”。
特點:
智能化及圖形顯示:HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置由嵌入式微機係統(tǒng)控製,輸出電流的波形、幅值可通過人機界麵準(zhǔn)確控製。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示,可方便計算、顯示直流開關(guān)的動作時間,並能存儲、打印測量結(jié)果。
多種輸出波形選擇:理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標(biāo)準(zhǔn)波形配置為常用的指數(shù)曲線,該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。
輸出準(zhǔn)確:按預(yù)先設(shè)定的波形參數(shù)輸出,綜合誤差隻有2%。它來源於振蕩器輸出信號由噪聲引起的相位、頻率的變化。頻率穩(wěn)定度分為兩個方麵:長期穩(wěn)定度和短期穩(wěn)定度,其中,短期穩(wěn)定度在時域內(nèi)用艾倫方差來表示,在頻域內(nèi)用相位噪聲來表示。相位噪聲的定義IEEEstandard1139-1988:以載波的幅度為參考,在偏移一定的頻率下的單邊帶相對噪聲功率。這個數(shù)值是指在1Hz的帶寬下的相對噪聲電平,其單位為dBc/Hz。該定義早是基於頻譜儀法測試相位噪聲,不區(qū)分調(diào)幅噪聲和調(diào)相噪聲。
測量及計時精度高:輸出電流、開關(guān)接點動作狀態(tài)通過測量回路測量並以圖形方式在顯示器上顯示,準(zhǔn)確計算有關(guān)參數(shù),電流測量精度為2%,時間測量精度為1mS
保護電路完善:HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。
接線方便:HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連,注意不得隨意采用其它電纜。
模塊化設(shè)計:HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置采用模塊化設(shè)計,特彆是2號櫃的降壓整流輸出單元,每一個模塊的輸出電流為5000A,方便維護和使用。根據(jù)用戶需要,可定製10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗裝置(HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA)紅外熱像儀能對零度以上物體發(fā)出的熱輻射生成熱圖像。通過提供每一個像素的溫度測量值,研究人員可以以非接觸的方式對某一場景進行觀察和測溫。由於紅外熱像儀提供的數(shù)據(jù)比熱電偶或點溫儀要多,而且可以追蹤隨時間推移所發(fā)生的溫度變化,所以它們非常適合用於研究和工程設(shè)計項目。製冷型與非製冷型紅外探測器紅外探測器大體可分為兩類:一類是熱探測器,另一類是量子探測器。熱探測器,比如微測輻射熱計,會對射入的輻射能產(chǎn)生反應(yīng),加熱像素,通過電阻的變化來反映出溫度的變化。