HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置 直流斷路器試驗設(shè)備HNDL 全自動溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗
利用計算機控製技術(shù)和現(xiàn)代電力電子技術(shù)研究設(shè)計的一種大電流低電壓直生裝置，主要用於直流開關(guān)的檢測試驗，如直流開關(guān)大電流脫扣定值的校驗、分流器及隔離放大器特性測試、開關(guān)動作時間測試等，並自動記錄測試的有關(guān)數(shù)據(jù)。測試時，探針壓在PCB表麵的待測點，然後通電測試每個網(wǎng)點的通斷，並報告存在的短路和斷路缺陷。其局限在於隻能檢測短路和斷路兩種缺陷，缺口、針孔和殘留銅等其它缺陷都無法檢測。針床夾具的成本過高，小批量生產(chǎn)不合適；但是隨著電子組裝向更高密度、更小尺寸、更複雜的PCB混合技術(shù)的縱深發(fā)展，僅依靠人眼檢測或電測試印製電路板的質(zhì)量無法滿足品質(zhì)要求。為提高產(chǎn)品質(zhì)量，減少進入下步工序的有缺陷電路板的數(shù)量，對PCB檢測中的關(guān)鍵設(shè)備----自動光學檢測(AOI)係統(tǒng)的需求也越來越大。

應(yīng)用：

    HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置是專門設(shè)計用於對地鐵及輕軌用DC1500V、DC750V直流開關(guān)及其隔離放大器、保護裝置進行功能試驗的設(shè)備，通過模擬輸出故障電流或過負荷電流，測試直流開關(guān)的大電流脫扣特性或過熱跳閘特性及延時特性，測試隔離放大器特性和保護裝置特性。對傳感器主要性能指標的考核也是根據(jù)傳感器在其規(guī)定的頻率範圍內(nèi)測量幅值精度的高低來評定。電荷輸出型加速度計不適合用於低頻測量由於低頻振動的加速度信號都很微小，而高阻抗的小電荷信號非常容易受乾擾;當測量對象的體積越大，其測量頻率越低，則信號的信噪比的問題更為突出。因此在目前帶內(nèi)置電路加速度傳感器日趨普遍的情況下應(yīng)儘量選用電噪聲比較小，低頻特性優(yōu)良的低阻抗電壓輸出型壓電加速度傳感器。傳感器的低頻截止頻率與傳感器的高頻截止頻率類同，低頻截止頻率是指在所規(guī)定的傳感器頻率響應(yīng)幅值誤差(±5%,±10%或±3dB)內(nèi)傳感器所能測量的頻率信號。

特點：

智能化及圖形顯示：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置由嵌入式微機係統(tǒng)控製，輸出電流的波形、幅值可通過人機界麵準確控製。輸出電流在顯示器上以圖形方式顯示，可方便計算、顯示直流開關(guān)的動作時間，並能存儲、打印測量結(jié)果。

多種輸出波形選擇：理論上輸出波形可有任意多種。本試驗裝置標準波形配置為常用的指數(shù)曲線，該曲線的幅值、時間常數(shù)可設(shè)定。

輸出準確：按預(yù)先設(shè)定的波形參數(shù)輸出，綜合誤差隻有2%。舉個例子，將一個離散的熱源放置在一個大的金屬散熱器上，會產(chǎn)生較大的熱梯度，因為熱量緩慢地通過鋁傳導到翅片。研發(fā)人員計劃在散熱器內(nèi)植入熱管，達到既減少散熱器板厚度和散熱片麵積，降低對強製對流的依賴從而實現(xiàn)噪音降低，又保證產(chǎn)品長期穩(wěn)定工作的目的，紅外熱像儀可以很好的幫助工程師們評估該方案效能。上圖解說：熱源功率150W；左圖：傳統(tǒng)鋁散熱片，長度30.5cm，基底厚度1.5cm，重4.4kg，可以發(fā)現(xiàn)熱量以熱源為中心梯度擴散；右圖：植入5根熱管後的散熱片，長度25.4cm，基底厚度0.7cm，重2.9kg，較傳統(tǒng)散熱片減材34%，可以發(fā)現(xiàn)熱管可以等溫的將熱量帶走，散熱器溫度分布均勻，同時發(fā)現(xiàn)導熱隻需3根熱管，有進一步降低成本的可能。

測量及計時精度高：輸出電流、開關(guān)接點動作狀態(tài)通過測量回路測量並以圖形方式在顯示器上顯示，準確計算有關(guān)參數(shù)，電流測量精度為2%，時間測量精度為1mS

保護電路完善：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置有完善的保護電路,如過流速斷保護、過流超時保護等。

接線方便：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置通過隨裝置提供的電纜與被試開關(guān)主觸頭端子相連，注意不得隨意采用其它電纜。

模塊化設(shè)計：HNDL20KA型直流開關(guān)試驗裝置采用模塊化設(shè)計，特彆是2號櫃的降壓整流輸出單元，每一個模塊的輸出電流為5000A，方便維護和使用。根據(jù)用戶需要，可定製10000A、15000A、20000A、30000A、40000A等規(guī)格的直流開關(guān)試驗裝置（HNDL10KA 、HNDL20KA 30KA、 HNDL40KA）如果套管內(nèi)部存在缺陷，也可能導致套管異常發(fā)熱。在這種情況下，發(fā)生故障套管的整體溫度一般較其他正常的兩相高（如下圖紅外熱像儀應(yīng)用在套管上）。如果套管內(nèi)部或外部接頭存在接觸，或接點被氧化腐蝕，也可能導致套管接觸點溫度異常。在這種情況下，發(fā)生故障套管接觸點就會表現(xiàn)出觸點的溫度明顯高於其他正常的點或線路或套管。變壓器套管熱缺陷的紅外熱像儀應(yīng)用檢測依據(jù)根據(jù)DL/T664-20089.1電流致熱型設(shè)備的判斷：套管將軍帽與外部接線板或內(nèi)部導電桿接觸是電流致熱故障，判斷依據(jù)如下：套管內(nèi)部存在缺陷的情況比較複雜：有可能是電壓致熱故障所引起的，也有可能是套管機械損傷造成的。