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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗 

JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)櫃進行試驗的要求。再簡單一點,就是考慮更好的散熱吧。功率管發(fā)熱功率管的功耗分成兩部分,開關(guān)損耗和導通損耗。要注意,大多數(shù)場合特彆是LED市電驅(qū)動應用,開關(guān)損害要遠大於導通損耗。開關(guān)損耗與功率管的cgd和cgs以及芯片的驅(qū)動能力和工作頻率有關(guān),所以要解決功率管的發(fā)熱可以從以下幾個方麵解決:不能片麵根據(jù)導通電阻大小來選擇MOS功率管,因為內(nèi)阻越小,cgs和cgd電容越大。如1N60的cgs為250pF左右,2N60的cgs為350pF左右,5N60的cgs為1200pF左右,差彆太大了,選擇功率管時,夠用就可以了。

JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求)

輸出波形:標準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù):三相  多路

本文探討了目前LED分布光度計的發(fā)展狀況,主要是對基於成像光度學,采用CCD或是數(shù)碼相機作為分布光度測量手段的儀器進行了和研究。此研究根據(jù)LED為半麵發(fā)光的特點,采用拋物麵反射器的設置,對LED的發(fā)光進行聚光反射,LED方向可通過步進馬達進行一定角度的轉(zhuǎn)換,從而得到不同角度位置的光斑,使用CCD或是數(shù)碼相機進行測試。得到LED反射的發(fā)光光斑後,通過合適的圖像處理,可根據(jù)光斑得到LED的配光曲線。JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗很多產(chǎn)品在做產(chǎn)品**認證時都會遇到產(chǎn)品測試不合格的情況,尤其是在電磁兼容測試(即EMC測試)出錯頻率更是普遍。當產(chǎn)品一旦測試不合格,那麼隨之而來的肯定是EMC整改通知書。在EMC整改過程中很多管理人和技術(shù)人員並不太明白該從何處入手?作為產(chǎn)品質(zhì)量**認證重要指標之一的EMC測試,通過測試產(chǎn)品在電磁方麵的乾擾大小和抗乾擾能力的綜合評定。下麵將EMC整改常遇到的問題和一些整改建議。我們來從EMC測試項目構(gòu)成說起,EMC主要包含兩大項:EMI(乾擾)和EMS(產(chǎn)品抗乾擾和敏感度)。JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL JP櫃溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗


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