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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:配電箱多回路溫升試驗設備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 5年保修

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統(tǒng)技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。配電箱多回路溫升試驗設備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 5年保修
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) 配電箱多回路溫升試驗設備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 5年保修 

配電箱多回路溫升試驗設備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 5年保修
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。EMC設計係統(tǒng)主站和從站電路板的設計對係統(tǒng)的EMC至關重要,而一個電路板的電磁輻射能力和接收能力往往是一致的。在提高電路板抗乾擾能力的同時,也了電路板的電磁輻射。PCB板的EMC設計主要因素有以下幾點:元器件選擇和布局選擇EMC性能好的元器件,並儘量選擇表麵貼裝的封裝形式。器件合理布局,把相互有關的器件儘量放得靠近些,使各部件之間的引線儘量短。特彆是微控製器和CAN控製器的時鐘源晶體一定按規(guī)定放置,否則會不起振。

配電箱多回路溫升試驗設備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 5年保修1.2 技術參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續(xù)可調, 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關櫃及相關標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求)

輸出波形:標準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調

工作時間:大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù):三相  多路

另外一種常見於ARM芯片,我們知道ARM芯片采用統(tǒng)一的編程接口SWD接口,某些ARM芯片會提供兩個AP(AccessPort),通過關閉訪問內部空間的AP可以達到加密的目的。而如果想解鎖,就要訪問另一條AP,這條AP隻可以訪問一個寄存器,通過寫入該寄存器特定的數(shù)據(jù)就可以將芯片重置為默認狀態(tài)。還有一種加密方式和上麵類似,隻不過采用了兩個編程接口,而不是同一編程接口的兩條AP??傊?,加密就是讓你無法讀取芯片數(shù)據(jù),而又可以通過擦除再次升級固件。配電箱多回路溫升試驗設備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 5年保修


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調節(jié)器

1

配電箱多回路溫升試驗設備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 5年保修一直以來,設計中的電磁乾擾(EMI)問題十分令人頭疼,尤其是在汽車領域。為了儘可能的減小電磁乾擾,設計人員通常會在設計原理圖和繪製布局時,通過降低高di/dt的環(huán)路麵積以及開關轉換速率來減小噪聲源。有時無論布局和原理圖的設計多麼謹慎,仍然無法將傳導EMI降低到所需的水平。這是因為噪聲不僅取決於電路寄生參數(shù),還與電流強度有關。另外,開關打開和關閉的動作會產(chǎn)生不連續(xù)的電流,這些不連續(xù)電流會在輸入電容上產(chǎn)生電壓紋波,從而增加EMI。配電箱多回路溫升試驗設備HNDL 三相大電流試驗裝置 容量大 5年保修


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