HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 三回路配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。所以，非製冷紅外焦平麵探測器是CMOS-MEMS單體集成的大陣列器件。非晶矽紅外探測器結(jié)構(gòu)應(yīng)用領(lǐng)域非製冷紅外探測器在**和商用領(lǐng)域具有非常廣泛的應(yīng)用：**領(lǐng)域**領(lǐng)域應(yīng)用包括熱觀瞄（TWS）、便攜式視覺增強(qiáng)、車載視覺增強(qiáng)（DVE）、遠(yuǎn)程站（RWS）、無人機(jī)（U）、無人駕駛地麵車輛、觀察指揮車、火控和製導(dǎo)等，如所示。非製冷紅外探測器在**領(lǐng)域的主要應(yīng)用熱像測溫領(lǐng)域熱像測溫用於預(yù)防性檢測，對電力輸電線路、發(fā)電設(shè)備、機(jī)械設(shè)備等通過紅外熱像儀檢測異常發(fā)熱區(qū)域，可以預(yù)防重大停機(jī)以及事故的發(fā)生。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

而對於支撐端到端傳輸?shù)幕A(chǔ)網(wǎng)絡(luò)而言，低延時(shí)（微秒級）、無損（lossless）則是重要的指標(biāo)。低延時(shí)網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)發(fā)延時(shí)主要產(chǎn)生在設(shè)備節(jié)點(diǎn)（這裡忽略了光電傳輸延時(shí)和數(shù)據(jù)串行延時(shí)），設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)延時(shí)包括以下三部分：存儲(chǔ)轉(zhuǎn)發(fā)延時(shí)：芯片轉(zhuǎn)發(fā)線處理延遲，每個(gè)hop會(huì)產(chǎn)生1微秒左右的芯片處理延時(shí)（業(yè)界也有嘗試使用cut-through模式，單跳延遲可以降低到0.3微秒左右）；Buffer緩存延時(shí)：當(dāng)網(wǎng)絡(luò)擁塞時(shí)，報(bào)文會(huì)被緩存起來等待轉(zhuǎn)發(fā)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路配電箱溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修移相網(wǎng)絡(luò)移相是指對於兩路同頻信號，以其中一路為參考信號，另一路信號相對於該參考信號做超前或滯後的移相形成相位差。主要有數(shù)字移相法和RC移相兩種。數(shù)字移相法通常采用延時(shí)的方法，以延時(shí)的長短來決定兩路數(shù)字信號間的相位差。數(shù)字移相法移相量可以很大，但是在一個(gè)周期內(nèi)采樣點(diǎn)數(shù)較多，對AD和RAM的速度要求很高。用RC組成移相網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行移相，由於回路呈容性，信號經(jīng)過該網(wǎng)絡(luò)後，相位發(fā)生變化。由於該方案簡單，很方便實(shí)現(xiàn)-45°到+45°移相，足以滿足需求，所以本係統(tǒng)采用了RC移相法。