HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 配電箱多回路溫升測試儀HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定製定做 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。為了同時(shí)實(shí)現(xiàn)多通道和高速采集，橫河SMARTDAC+係列采集器采用了各模塊立A/D的硬件設(shè)計(jì)，各模塊間的數(shù)據(jù)采集並行處理，而主機(jī)CPU負(fù)責(zé)所有通道的數(shù)據(jù)保存和上位通信，從而可以保證5ms*1ch的係統(tǒng)性能。靈活的信號輸入在研究和設(shè)計(jì)開發(fā)領(lǐng)域使用的記錄儀，需要根據(jù)實(shí)驗(yàn)?zāi)康挠涗洀膫鞲衅骰蛘邚碾妷?電流源得到的信號。因此需要對應(yīng)溫度傳感器和電壓量程。可拆卸端子另外，多點(diǎn)測試有大量接線的工作，為了提高接線的作業(yè)效率，可以選擇端子可拆卸的產(chǎn)品。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

可控矽檢測方案電控係統(tǒng)長時(shí)間運(yùn)行後，電發(fā)動機(jī)會出現(xiàn)跳閘等故障?；洞?，對可控矽性能好壞進(jìn)行檢測，對於係統(tǒng)的日常維護(hù)、保證正常運(yùn)轉(zhuǎn)具有十分重要的意義。通常對電氣設(shè)備的檢測設(shè)備及方法有萬用表、漏電儀、搖表，另外，還可以利用示波器觀測導(dǎo)通電流以判斷可控矽導(dǎo)通情況。在實(shí)際生產(chǎn)中，僅采用萬用表無法判斷可控矽的故障。下麵對幾種檢測方法進(jìn)行對比，以得出可控矽檢測的方法。漏電儀檢測法（耐壓試驗(yàn)）采用大電流發(fā)生器（簡稱升流器）對可控矽K兩極之間進(jìn)行漏電試驗(yàn)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱多回路溫升測試儀HNDL 三相大電流發(fā)生器 容量大 定製定做曼徹斯特編碼的優(yōu)點(diǎn)是每個(gè)位都有一個(gè)信號邊沿用來實(shí)現(xiàn)位同步（Self-clockingcode）。但是曼徹斯特編碼和非歸零編碼相比，在相同的位時(shí)間（位頻率）時(shí)，位速率隻能達(dá)到非歸零碼一半。由於非歸零編碼的信號電平可長時(shí)間保持不變（取決於所傳輸?shù)臄?shù)據(jù)），因此有必要采取適當(dāng)?shù)拇胧┮源_保不超過兩個(gè)信號沿之間允許的時(shí)間間隔。重新同步點(diǎn)之間的時(shí)間間隔由節(jié)點(diǎn)振蕩器的誤差決定。重新同步可通過應(yīng)用“位填充”的方法實(shí)現(xiàn)。