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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路配電箱溫升測(cè)試儀HNDL 直流試驗(yàn)電源 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。三回路配電箱溫升測(cè)試儀HNDL 直流試驗(yàn)電源 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 三回路配電箱溫升測(cè)試儀HNDL 直流試驗(yàn)電源 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

三回路配電箱溫升測(cè)試儀HNDL 直流試驗(yàn)電源 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。另外,LM71-Q1可以監(jiān)測(cè)TCU模塊的總體溫度,當(dāng)溫度處?kù)?40°C和+150°C之間時(shí),測(cè)量精度可達(dá)+3/-2°C。如前所述,TCU采用來(lái)自變速箱的溫度數(shù)據(jù),作為其決策過(guò)程的一部分。LMT01-Q1是采用雙引腳引線封裝的一種易用型數(shù)字溫度傳感器,您可以把它安裝在變速箱上。將導(dǎo)線與LMT01-Q1封裝的引線壓接在一起,即可把這些導(dǎo)線連接至TCU電路板。LMT01-Q1通過(guò)發(fā)送脈衝來(lái)傳輸溫度數(shù)據(jù),MCU/處理器會(huì)為脈衝計(jì)數(shù)。

三回路配電箱溫升測(cè)試儀HNDL 直流試驗(yàn)電源 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

指針抖動(dòng)輕微指針抖動(dòng):一般由於介質(zhì)波動(dòng)引起。可采用增加阻尼的方式來(lái)克服。中度指針抖動(dòng):一般由於介質(zhì)流動(dòng)狀態(tài)造成。對(duì)於氣體一般由於介質(zhì)操作壓力不穩(wěn)造成??刹捎梅€(wěn)壓或穩(wěn)流裝置來(lái)克服或加大氣阻尼。劇烈指針抖動(dòng):主要由於介質(zhì)脈動(dòng),氣壓不穩(wěn)或用戶給出的氣體操作狀態(tài)的壓力、溫度、流量與浮子流量計(jì)實(shí)際的狀態(tài)不符,有較大差異造成浮子流量計(jì)過(guò)量程。指針停到某一位置不動(dòng)主要原因是浮子流量計(jì)的浮子卡死。一般由於浮子流量計(jì)使用時(shí)開(kāi)啟閥門(mén)過(guò)快,使得浮子飛快向上衝擊止動(dòng)器,造成止動(dòng)器變形而將浮子卡死。三回路配電箱溫升測(cè)試儀HNDL 直流試驗(yàn)電源 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路配電箱溫升測(cè)試儀HNDL 直流試驗(yàn)電源 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)升溫速率的影響和選擇升溫速率不僅影響峰溫的位置,而且影響峰麵積的大小,一般來(lái)說(shuō),在較快的升溫速率下峰麵積變大,峰變尖銳。但是快的升溫速率使試樣分解偏離平衡條件的程度也大,因而易使基線漂移。更主要的可能導(dǎo)致相鄰兩個(gè)峰重疊,分辨力下降。較慢的升溫速率,基線漂移小,使體係接**衡條件,得到寬而淺的峰,也能使相鄰兩峰更好地分離,因而分辨力高。但測(cè)定時(shí)間,需要儀器的靈敏度高。一般情況下選擇8度min-1~12度min-1為宜。三回路配電箱溫升測(cè)試儀HNDL 直流試驗(yàn)電源 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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