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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。三回路JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 三回路JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

三回路JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。移動(dòng)機(jī)器人避障常用的傳感器激光傳感器激光測(cè)距傳感器利用激光來測(cè)量到被測(cè)物體的距離或者被測(cè)物體的位移等參數(shù)。比較常用的測(cè)距方法是由脈衝激光器發(fā)出持續(xù)時(shí)間極短的脈衝激光,經(jīng)過待測(cè)距離後射到被測(cè)目標(biāo),回波返回,由光電探測(cè)器接收。根據(jù)主波信號(hào)和回波信號(hào)之間的間隔,即激光脈衝從激光器到被測(cè)目標(biāo)之間的往返時(shí)間,就可以算出待測(cè)目標(biāo)的距離。由於光速很快,使得在測(cè)小距離時(shí)光束往返時(shí)間極短,因此這種方法不適合測(cè)量精度要求很高的(亞毫米級(jí)彆)距離,一般若要求精度非常高,常用三角法、相位法等方法測(cè)量。

三回路JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

此外,一些重點(diǎn)場(chǎng)所也開始布置毫米波安檢儀,如大使館、機(jī)關(guān)、大型會(huì)場(chǎng)和體育場(chǎng)館等。在前兩代產(chǎn)品獲得巨大成功的基礎(chǔ)上,羅德與施瓦茨推出的RSQPS201快速安檢儀,進(jìn)一步優(yōu)化了硬件設(shè)計(jì)、檢測(cè)算法、處理時(shí)間、安檢通道設(shè)計(jì)等等多種要素,提升了安檢儀的精度、效率、可靠性,契合各地機(jī)場(chǎng)的多樣化需求。目前已經(jīng)通過上述三大機(jī)構(gòu)的認(rèn)證許可,並在各大機(jī)場(chǎng)大量投入使用,以其高掃描速度,高分辨率和高檢出率廣受客戶的好評(píng)。三回路JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)很多人對(duì)直角走線都有這樣的理解,認(rèn)為容易發(fā)射或接收電磁波,產(chǎn)生EMI,這也成為許多人認(rèn)為不能直角走線的理由之一。然而很多實(shí)際測(cè)試的結(jié)果顯示,直角走線並不會(huì)比直線產(chǎn)生很明顯的EMI。也許目前的儀器性能,測(cè)試水平製約了測(cè)試的性,但至少說明了一個(gè)問題,直角走線的輻射已經(jīng)小於儀器本身的測(cè)量誤差??偟恼f來,直角走線並不是想象中的那麼可怕。至少在GHz以下的應(yīng)用中,其產(chǎn)生的任何諸如電容,反射,EMI等效應(yīng)在TDR測(cè)試中幾乎體現(xiàn)不出來,高速PCB設(shè)計(jì)工程師的重點(diǎn)還是應(yīng)該放在布局,電源/地設(shè)計(jì),走線設(shè)計(jì),過孔等其他方麵。三回路JP櫃溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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