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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱(chēng):配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)係人車(chē)高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿(mǎn)足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。將粗糙度影響程度降到,這樣我們才能獲得準(zhǔn)確的測(cè)量值。擠壓層的影響及解決辦法擠壓層即經(jīng)車(chē)床精車(chē)加工出來(lái)的試件表麵上的一層薄薄的硬層。試件在被精車(chē)加工時(shí),車(chē)刀同時(shí)對(duì)試件表麵有一個(gè)擠壓(滾壓)作用,使精車(chē)麵表層的金屬晶粒變形細(xì)化,較試件深層的金屬晶粒更細(xì)密,從而產(chǎn)生了一層薄薄的硬層。硬層厚度一般在0.3毫米左右。這一硬層致使硬度測(cè)量值偏高於真空值,對(duì)用臺(tái)式硬度計(jì)和微電腦超聲硬度計(jì)測(cè)量硬度的準(zhǔn)確性有不同程度的影響。

配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿(mǎn)足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

性能配置:每個(gè)行業(yè)對(duì)於色差精度的要不一樣的,也就是△Eab,若是△Eab在0-1之間,那麼必須選擇精度較高儀器;這些一般都是橡塑、塗料和噴漆行業(yè)等;如不需要精度比較高的也可以選擇一般的色差儀就可以。測(cè)試孔徑:一般色差儀的測(cè)試孔徑是4mm或者8mm,如果自身產(chǎn)品是弧麵或者尺寸非常小,那麼需要考慮測(cè)試孔徑問(wèn)題,當(dāng)然也可選擇定製。計(jì)量認(rèn)證:色差儀屬於計(jì)量類(lèi)儀器,要了解該產(chǎn)品是否可以達(dá)到計(jì)量要求,否則出現(xiàn)爭(zhēng)論時(shí),數(shù)據(jù)是冇法參考的。配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶(hù)具體需求配置)

序號(hào)

名稱(chēng)

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)增益壓縮測(cè)量軌跡圖中軌跡含義如下:表1壓縮參數(shù)表通過(guò)一次測(cè)量,即可得到全頻段的壓縮點(diǎn),並且可以將壓縮點(diǎn)的輸入功率,輸出功率,增益等信息一次顯示出來(lái)。每條軌跡都支持幅度,相位,圓圖,極坐標(biāo)等多種格式的顯示。通過(guò)壓縮參數(shù)與線(xiàn)性S參數(shù)的對(duì)比,可以看出放大器在線(xiàn)性區(qū)和飽和區(qū)的工作狀態(tài)發(fā)生了哪些改變。如果要獲得更多的參數(shù),可以選擇增加軌跡,來(lái)獲得更多信息。掃描方法放大器增益壓縮測(cè)量有三種掃描方法:智能掃描和兩種二維掃描。配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 三相大電流試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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