HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。雙串口高速透明傳輸不丟幀WM622擁有兩路全透明傳輸串口，用戶可將自己產(chǎn)品的串口資源快速拓展成無(wú)線連接，相當(dāng)於建立了一段無(wú)形的串行傳輸線，串口速率可高達(dá)1Mbps。透明傳輸?shù)膬?yōu)勢(shì)在於，用戶可以在這基礎(chǔ)上，創(chuàng)建自己需要的協(xié)議格式，使用戶不局限於固定使用方協(xié)議。優(yōu)越的通信距離和穿牆能力模塊針對(duì)複雜的工業(yè)環(huán)境設(shè)計(jì)，天線的匹配設(shè)計(jì)均經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試驗(yàn)證，信號(hào)質(zhì)量得到的優(yōu)化，有效加強(qiáng)信號(hào)的強(qiáng)度及穿透力，多重保障讓聯(lián)網(wǎng)設(shè)備信號(hào)無(wú)阻，體驗(yàn)信號(hào)滿格。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

在標(biāo)準(zhǔn)GB/T4365-1995中對(duì)電磁兼容嚴(yán)格的定義是：設(shè)備或係統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對(duì)該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁擾的能力。電磁兼容性包括兩方麵：電磁乾擾（electromagneticinterference;EMI）、電磁耐受（electromagneticsusceptibility;EMS）。EMI指的是電氣產(chǎn)品本身通電後，因電磁感應(yīng)效應(yīng)所產(chǎn)生的電磁波對(duì)周圍電子設(shè)備所造成的乾擾影響；EMS則是指電氣產(chǎn)品本身對(duì)外來(lái)電磁波的乾擾防禦能力。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 便攜式大電流發(fā)生器 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)數(shù)字子係統(tǒng)架構(gòu)從以往的設(shè)計(jì)來(lái)講，數(shù)字子係統(tǒng)的引腳電子設(shè)備依賴於定製設(shè)計(jì)—離散設(shè)計(jì)，混合設(shè)備和完全定製設(shè)計(jì)。然而，今天有商業(yè)供應(yīng)商為半導(dǎo)體和板級(jí)測(cè)試應(yīng)用生產(chǎn)一係列針式電子產(chǎn)品，提供高水平的集成和通道密度。這些器件是實(shí)現(xiàn)更高通道密度的關(guān)鍵因素，同時(shí)也帶來(lái)了管理功耗和功耗的持續(xù)挑戰(zhàn)。今天的數(shù)字子係統(tǒng)多基於開(kāi)放式架構(gòu)，卡模塊化平臺(tái)，如VXI和PXI標(biāo)準(zhǔn)，PXI是主導(dǎo)平臺(tái)。為了適應(yīng)與支持M-A應(yīng)用相關(guān)的許多必要特性和功能，PXI的6U外形在標(biāo)準(zhǔn)PXI電源之外提供了額外的PCB空間和靈活性，可以使用額外的電源。