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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP櫃大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。JP櫃大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) JP櫃大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

JP櫃大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。統(tǒng)一接口標(biāo)準(zhǔn)的好處是廠商根據(jù)需要可以從市麵上靈活選擇不同的芯片和模組,更改設(shè)計(jì)和功能時(shí)更加快捷方便。MIPI組織主要致力於把移動(dòng)通信設(shè)備內(nèi)部的接口標(biāo)準(zhǔn)化從而減少兼容性問(wèn)題並簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。下圖是按照MIPI組織的設(shè)想未來(lái)智能移動(dòng)通信設(shè)備的內(nèi)部架構(gòu)。圖中顯示屏的DSI接口是目前已經(jīng)比較成熟的MIPI應(yīng)用。對(duì)於顯示屏使用較多的行業(yè)(如屏、電腦屏、遊戲機(jī))而言,在調(diào)試通信的時(shí)候,能夠準(zhǔn)確地捕獲命令包數(shù)據(jù)十分關(guān)鍵。

JP櫃大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

我們可以對(duì)臺(tái)式電源電壓和恒流限製來(lái)進(jìn)行配置。電源將會(huì)監(jiān)測(cè)電壓和電流情況。對(duì)於測(cè)量結(jié)果隨時(shí)間的變化,我們可以手動(dòng)收集,也可以用計(jì)算機(jī)來(lái)收集。簡(jiǎn)單的程序或應(yīng)用軟件(如BenchVue)可以幫助檢索電源,以便搜集數(shù)據(jù)並繪製圖形。某些新款臺(tái)式電源配有圖形用戶界麵,還可直接使用USB存儲(chǔ)器進(jìn)行記錄。圖2中的示例是超級(jí)電容器在未達(dá)到2.7V的電壓極限之前,以5A的速率進(jìn)行充電的情況。圖2:E36312A正在捕獲一個(gè)100F超級(jí)電容器的充電情況當(dāng)電容器達(dá)到2.7V以後,吸收的電流將會(huì)越來(lái)越少。JP櫃大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP櫃大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)再將各單元儀表箱輸出的4~20MA模擬信號(hào)連接到多點(diǎn)記錄儀或控製執(zhí)行機(jī)構(gòu),又可通過(guò)RS-232口與計(jì)算機(jī),打印機(jī)等設(shè)備進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊。本係統(tǒng)中的測(cè)溫單元通常選用精度較高。切換測(cè)溫係統(tǒng):該係統(tǒng)是通過(guò)將安裝於各測(cè)溫點(diǎn)的紅外信號(hào)連接到一臺(tái)多點(diǎn)測(cè)溫儀上進(jìn)行信號(hào)處理。並分彆輸出與各測(cè)溫點(diǎn)相應(yīng)的1~5V溫度信號(hào),供多點(diǎn)記錄儀記錄,同時(shí)也可直接通過(guò)RS232口把溫度數(shù)據(jù)輸入計(jì)算機(jī),由計(jì)算機(jī)處理,還可接打印機(jī)直接把溫度數(shù)據(jù)打印出來(lái)。JP櫃大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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