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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定製定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定製定做
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定製定做 

三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定製定做
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。根據(jù)線路板的設(shè)計(jì)和具體情況,係統(tǒng)噪聲有時(shí)候可以改善測(cè)量的精度。溫濕度記錄儀數(shù)據(jù)采集板實(shí)際上可以憑借一種稱為抖動(dòng)的技術(shù)提高分辨率,使其超出規(guī)定的指標(biāo)。抖動(dòng)有時(shí)由軟件命令控製,該技術(shù)將一個(gè)均方根振幅差不多等同於量化誤差的高斯噪聲疊加到信號(hào)上,因?yàn)樵肼暿请S機(jī)的,軟件可以在對(duì)測(cè)量結(jié)果取平均值時(shí)用取平均的方法將采集板規(guī)定指標(biāo)放大,從而使測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確,udele使用抖動(dòng)技術(shù)時(shí)一個(gè)12位采集板可以達(dá)到14位分辨率。

三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定製定做1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

此類紅外熱像儀不需要製冷,且成本比量子探測(cè)器紅外熱像儀低。製冷型量子探測(cè)器采用銻華銦(InS、銦鎵砷(InGaAs)或應(yīng)變超晶格製成。這類探測(cè)器為光電探測(cè)器,即光子撞擊像素點(diǎn),轉(zhuǎn)化為可存儲(chǔ)於積分電容器的電子。像素采用的電子快門,通過斷開或短路積分電容器來控製快門。銻化銦(InSb)探測(cè)器熱像儀,比如FLIRX69sc,在測(cè)量-2?C至35?C之間的物體溫度時(shí),其典型的積分時(shí)間可能低至.48μs。三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定製定做


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定製定做我們把積分時(shí)間這個(gè)術(shù)語(yǔ)定義為熱像儀內(nèi)部熱成像探測(cè)器生成一個(gè)單幀的曝光時(shí)間。以較長(zhǎng)的曝光時(shí)間來操作熱像儀能夠提高靈敏度,但與此同時(shí),這也限製了熱像儀的測(cè)溫範(fàn)圍:高溫物體如此明亮,以至於它們超出了熱像儀的規(guī)定測(cè)溫範(fàn)圍。如果一個(gè)場(chǎng)景或一組連續(xù)鏡頭包含需要同時(shí)測(cè)量的溫差,熱像儀的曝光時(shí)間應(yīng)大大縮短。但由於超出了規(guī)定的測(cè)溫範(fàn)圍,這種縮短本身會(huì)造成場(chǎng)景較冷區(qū)域溫差測(cè)量的能力下降,導(dǎo)致這些區(qū)域在屏幕上顯示為黑色或噪點(diǎn),如至4所示。三回路JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 全自動(dòng)溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定製定做


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