HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 三回路JP櫃溫升測(cè)試儀HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。其中EMI包括：CE（傳導(dǎo)乾擾），RE（輻射乾擾），PT(乾擾功率測(cè)試)等等。EMS包括：ESD(靜電放電），RS（輻射耐受），EFT/B(快速脈衝耐受)，surge（雷擊），CS（傳導(dǎo)耐受）等。常見(jiàn)的擾源顯然，EMC設(shè)計(jì)的目的就是使所設(shè)計(jì)的電子設(shè)備或係統(tǒng)在預(yù)期的電磁環(huán)境中能夠?qū)崿F(xiàn)電磁兼容。換而言之,就是說(shuō)設(shè)計(jì)的電子設(shè)備或係統(tǒng)必須能夠滿足EMC標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的兩方麵的能力。常見(jiàn)EMC測(cè)試項(xiàng)目電磁乾擾（EMI）的原理EMI的產(chǎn)生原因形式的電磁乾擾是影響電子設(shè)備兼容性的主要原因。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

電磁感應(yīng)當(dāng)兩個(gè)電路之間有互感存在時(shí)，一個(gè)電路中電流的變化就會(huì)通過(guò)磁場(chǎng)耦合到另一個(gè)電路，這一現(xiàn)象稱為電磁感應(yīng)。變壓器及線圈的漏磁、通電平行導(dǎo)線等。漏電流感應(yīng)由於電子線路內(nèi)部的元件支架、接線柱、印刷電路板、電容內(nèi)部介質(zhì)或外殼等絕緣，特彆是傳感器的應(yīng)用環(huán)境濕度較大，絕緣體的絕緣電阻下降，導(dǎo)致漏電電流增加就會(huì)引起乾擾。尤其當(dāng)漏電流流入測(cè)量電路的輸入級(jí)時(shí)，其影響就特彆嚴(yán)重。射頻乾擾主要是大型動(dòng)力設(shè)備的啟動(dòng)、操作停止的乾擾和高次諧波乾擾。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路JP櫃溫升測(cè)試儀HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)(的電纜及元器件)能夠顯著減小進(jìn)入到周圍環(huán)境中而可能被攔截的電磁能輻射等級(jí)。不同乾擾場(chǎng)的選擇乾擾場(chǎng)主要有電磁乾擾及射頻乾擾兩種。電磁乾擾(EMI)主要是低頻乾擾，馬達(dá)、熒光燈以及電源線是通常的電磁乾擾源。射頻乾擾(RFI)是指無(wú)線頻率乾擾，主要是高頻乾擾。無(wú)線電、電視轉(zhuǎn)播、雷達(dá)及其他無(wú)線通訊是通常的射頻乾擾源。對(duì)於抵抗電磁乾擾，選擇編織為有效，因其具有較低的臨界電阻;對(duì)於射頻乾擾，箔層有效，因編織依賴於波長(zhǎng)的變化，它所產(chǎn)生的縫隙使得高頻信號(hào)可自由進(jìn)出導(dǎo)體;而對(duì)於高低頻混合的乾擾場(chǎng)，則要采用具有寬帶覆蓋功能的箔層加編織網(wǎng)的組合方式。