HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) 三回路JP櫃溫升測試儀HNDL 交流溫升試驗設(shè)備 容量大 5年保修 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)櫃進行試驗的要求。為了解決這個問題，必須製定一係列的內(nèi)部接口標準，否則行業(yè)將成為碎片化的產(chǎn)業(yè)。2003年，由ARM,Nokia,ST,TI等公司聯(lián)合成立了一個聯(lián)盟——MIPI是，目的就是是把內(nèi)部的接口如攝像頭、顯示屏接口、射頻/基帶接口等標準化，從而減少設(shè)計的複雜程度和增加設(shè)計靈活性。MIPI聯(lián)盟下麵有不同的WorkGroup，分彆定義了一係列的內(nèi)部接口標準，比如攝像頭接口CS顯示接口DS射頻接口DigR麥克風(fēng)/喇叭接口SLIMbus等。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

無論是實驗室環(huán)境還是生產(chǎn)車間，都需要采用更的半導(dǎo)體測試方法。半導(dǎo)體測試是NI的戰(zhàn)略重點。我們正在擴展我們的軟件平臺和PXI功能，以幫助芯片製造商應(yīng)對他們麵臨的挑戰(zhàn)，這一點通過NI的PXISMU可以完全體現(xiàn)出來?！庇伸镀涓咄掏铝俊⒏咝詢r比和占地麵積小，NI的半導(dǎo)體測試係統(tǒng)(STS)正在快速應(yīng)用到芯片生產(chǎn)中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能，它能提供更高的直流通道密度，使多站點應(yīng)用具有更高的並行性，以及在生產(chǎn)中提供實驗室級彆的測量質(zhì)量。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）