HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

聯(lián)係人車(chē)高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿(mǎn)足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。3D打印過(guò)程中，由於速度、距離、材料等特性的不同，在粉末逐層堆疊累積的過(guò)程中，溫度會(huì)出現(xiàn)異常，如跳變、過(guò)高、過(guò)低、不均勻等，造成打印後的結(jié)構(gòu)件性能下降，韌度差、彈性不夠、變脆、隱紋等。使用之選係列熱像儀在可以為金屬打印過(guò)程中，提供有效的檢測(cè)方案。TiX1000120Hz幀頻模式，劉琛拍攝應(yīng)用案例：某大學(xué)機(jī)械製造係統(tǒng)工程重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室，負(fù)責(zé)利用3D打印技術(shù)可快速而地製造出任意複雜形狀的零件，從而實(shí)現(xiàn)“自由製造”項(xiàng)目研究。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿(mǎn)足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

上述零部件在生產(chǎn)製造過(guò)程中，必須經(jīng)過(guò)一係列的渦流探傷儀無(wú)損檢測(cè)。常用的汽車(chē)零部件無(wú)損檢測(cè)有射線(xiàn)檢測(cè)、超聲檢測(cè)、電磁渦流檢測(cè)、磁粉檢測(cè)和滲透檢測(cè)，亦稱(chēng)五大探傷方法。隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，常用的這五大無(wú)損檢測(cè)方法本身也在不斷地發(fā)展，如X射線(xiàn)實(shí)時(shí)成像、自動(dòng)磁粉探傷判傷係統(tǒng)、渦流探傷儀漏磁自動(dòng)探傷係統(tǒng)、新型滲透材料的問(wèn)世等。除此之外，無(wú)損檢測(cè)還增添了新的方法，如聲發(fā)射、微波、紅外、全息照相、光彈顯示等被稱(chēng)為新五大檢測(cè)方法。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶(hù)具體需求配置）

JP櫃溫升試驗(yàn)裝置HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修時(shí)序和布局約束是實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)要求的關(guān)鍵因素。本文是介紹其使用方法的入門(mén)讀物。完成RTL設(shè)計(jì)隻是FPGA設(shè)計(jì)量產(chǎn)準(zhǔn)備工作中的一部分。接下來(lái)的挑戰(zhàn)是確保設(shè)計(jì)滿(mǎn)足芯片內(nèi)的時(shí)序和性能要求。為此，您經(jīng)常需要定義時(shí)序和布局約束。我們了解一下在基於賽靈思FPGA和SoC設(shè)計(jì)係統(tǒng)時(shí)如何創(chuàng)建和使用這兩種約束。時(shí)序約束基本的時(shí)序約束定義了係統(tǒng)時(shí)鐘的工作頻率。然而，更的約束能建立時(shí)鐘路徑之間的關(guān)係。