HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 三回路配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。隨著電子技術(shù)的發(fā)展，器件的噪聲係數(shù)越來(lái)越低，放大器的動(dòng)態(tài)範(fàn)圍也越來(lái)越大，增益也大有提高，使得電路係統(tǒng)的靈敏度和選擇性以及線性度等主要技術(shù)指標(biāo)都得到較好的解決。同時(shí)，隨著技術(shù)的不斷提高，對(duì)電路係統(tǒng)又提出了更高的要求，這就要求電路係統(tǒng)必須具有較低的相位噪聲，在現(xiàn)代技術(shù)中，相位噪聲已成為限製電路係統(tǒng)的主要因素。低相位噪聲對(duì)於提高電路係統(tǒng)性能起到重要作用。相位噪聲好壞對(duì)通訊係統(tǒng)有很大影響，尤其現(xiàn)代通訊係統(tǒng)中狀態(tài)很多，頻道又很密集，並且不斷的變換，所以對(duì)相位噪聲的要求也愈來(lái)愈高。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

其中，n為大於1的自然數(shù)，an代表第n個(gè)補(bǔ)償周期獲取的補(bǔ)償參數(shù)，mn-1代表第n-1個(gè)補(bǔ)償周期存儲(chǔ)的補(bǔ)償餘數(shù)，nn代表RTC模塊的補(bǔ)償單位，b代表RTC模塊的補(bǔ)償單位的整數(shù)倍，mn代表第n個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償餘數(shù)。在第n個(gè)補(bǔ)償周期中，所述根據(jù)所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值和所述補(bǔ)償餘數(shù)對(duì)RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)，具體包括：按照所述第n個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償校準(zhǔn)值對(duì)所述RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)，並存儲(chǔ)所述第n個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償餘數(shù)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 三相溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修目前，大多數(shù)蜂窩采用時(shí)分多址(TDMA)標(biāo)準(zhǔn)，這種複用技術(shù)以217Hz的頻率對(duì)高頻載波進(jìn)行通/斷脈衝調(diào)製。容易受到RF乾擾的IC會(huì)對(duì)該載波信號(hào)進(jìn)行解調(diào)，再生出217Hz及其諧波成分的信號(hào)。由於這些頻譜成分的絕大多數(shù)都落入音頻範(fàn)圍，因此它們會(huì)產(chǎn)生令人生厭的“嗡嗡”聲。由此可見(jiàn)，RF抗乾擾能力較差的電路會(huì)對(duì)蜂窩的RF信號(hào)解調(diào)，並會(huì)產(chǎn)生不希望聽(tīng)到的低頻噪音。作為質(zhì)量保證的測(cè)試手段，測(cè)量時(shí)需要將電路置於RF環(huán)境中，該環(huán)境要與正常操作時(shí)電路的工作環(huán)境相當(dāng)。