HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。先測(cè)試出可控矽的峰值電壓，將電線正負(fù)極連接至K兩極，接地線接至室內(nèi)主接地上，逐漸升壓，測(cè)試其漏電流數(shù)值。進(jìn)行漏電測(cè)試後，逐漸升壓，觀測(cè)漏電流，當(dāng)數(shù)值超過(guò)其額定峰值電壓後，可控矽被擊穿，但采用此方法可能會(huì)破壞其PN結(jié)，並且隻能測(cè)試其是否導(dǎo)通，而不能測(cè)試其導(dǎo)通是否良好，故不再采用此法進(jìn)行測(cè)試。搖表測(cè)試法用搖表對(duì)可控矽進(jìn)行測(cè)量，參照之前使用的漏電檢測(cè)法。為防止搖表法測(cè)試過(guò)程中擊穿或損壞可控矽，改變搖表操作方法，即要對(duì)搖表電壓和轉(zhuǎn)速進(jìn)行控製，兩筆端鏈接K極對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

模擬偏置模擬偏置，也稱為DC偏置，是一個(gè)非常有用的功能，大多數(shù)示波器都具有該功能。如果運(yùn)用得當(dāng)，可以避免小信號(hào)測(cè)試時(shí)垂直分辨率的丟失的問(wèn)題。模擬偏置給輸入的信號(hào)加上一個(gè)直流偏置電壓，如果輸入信號(hào)超出了示波器ADC的測(cè)量範(fàn)圍，加上偏置電壓之後，能將信號(hào)調(diào)節(jié)到示波器的範(fàn)圍內(nèi)。超出範(fàn)圍的信號(hào)通過(guò)模擬偏置將信號(hào)調(diào)節(jié)至示波器的測(cè)量範(fàn)圍內(nèi)典型應(yīng)用：LVDS1）LVDS信號(hào)特征LVDS（低壓差分信號(hào)），如所示，兩組相位相反的差分信號(hào)，信號(hào)特征如下：峰峰值：350mV共模電壓偏置：1.2V高壓：1.2V+0.5*350mV=1.375V低壓：1.2V+0.5*350mV=1.025V該測(cè)的是PicoScope6404B示波器，4通道，500MHz，8位分辨率，信號(hào)是仿真的LVDS信號(hào)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 直流溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修矢量網(wǎng)絡(luò)儀作為射頻微波元器件性能評(píng)價(jià)的一個(gè)基本工具，有著廣泛的應(yīng)用，下麵我們通過(guò)一個(gè)濾波器的測(cè)試過(guò)程來(lái)看一看矢量網(wǎng)絡(luò)儀E5063A是如何測(cè)試一個(gè)射頻微波元器件的。Step1設(shè)置矢量網(wǎng)絡(luò)儀E5063A的測(cè)試參數(shù)：起始和截至頻率，中頻帶寬和測(cè)試點(diǎn)數(shù)，然後執(zhí)行校準(zhǔn)移除係統(tǒng)誤差，這裡我們使用了既快又準(zhǔn)的E-cal校準(zhǔn)。在校準(zhǔn)前請(qǐng)觀察E-Cal的LED指示燈是否已經(jīng)變?yōu)榫G色，綠色代表ECal已經(jīng)準(zhǔn)備完畢可以開(kāi)始校準(zhǔn)(如果您使用的是N755x係列電子校準(zhǔn)件，它啟動(dòng)後即可開(kāi)始校準(zhǔn)，無(wú)需等待)。