HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 配電箱多回路溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定製定做 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。吉爾德定律的提出者是被稱為“數(shù)字時(shí)代三大思想家”之一的喬治吉爾德，他認(rèn)為正如20世紀(jì)70年代昂貴的晶體管，在現(xiàn)如今變得如此便宜一樣，主乾網(wǎng)如今還是稀缺資源的網(wǎng)絡(luò)帶寬，有朝一日會(huì)變得足夠充裕，那時(shí)上網(wǎng)的代價(jià)也會(huì)大幅下降。隨著帶寬的增加，將會(huì)有更多的設(shè)備以有線或無線的方式上網(wǎng)，這些設(shè)備本身並冇有什麼智能，但大量這樣的“”設(shè)備通過網(wǎng)絡(luò)連接在一起時(shí)，其威力將會(huì)變得很大，就像利用便宜的晶體管可以製造出價(jià)格昂貴的電腦一樣，隻要將廉價(jià)的網(wǎng)絡(luò)帶寬資源充分利用起來，也會(huì)給人們帶來巨額的回報(bào)，未來的成功人士將是那些更善於利用帶寬資源的人。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

對於非線性負(fù)載，需要使用功率儀測試其諧波電流是否超出相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限值。致遠(yuǎn)PA全係列功率儀支持通用的IEC61000-4-7諧波測試標(biāo)準(zhǔn)；而對於電能質(zhì)量要求較高的精密設(shè)備，需要對其供電電源的抗諧波乾擾能力進(jìn)行測試。其中PA8000認(rèn)證級功率儀強(qiáng)大FFT測量功能可以每一次頻點(diǎn)的能量，分辨率為0.1Hz，通過此功能可以查看每次間諧波的數(shù)據(jù)。在實(shí)際測試中，需要測試電源輸入端的間諧波指標(biāo)，目前業(yè)界隻有PA8000認(rèn)證級功率儀和PA6000PA5000H支持此功能。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱多回路溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 定製定做ENOB=（SINAD-1.76dB）/6.2，其中1.76為理想ADC的量化噪聲，6.2為將log2轉(zhuǎn)化為log1的係數(shù)比。很明顯，SINAD越大，ENOB越大，而提升SINAD的方法就是重點(diǎn)關(guān)注與測試精度有關(guān)的電路。在數(shù)字示波器的架構(gòu)中，與測試精度有關(guān)的電路有：前端采集電路、ADC采樣電路。被測信號(hào)經(jīng)前端采集電路進(jìn)行調(diào)理後傳輸給ADC進(jìn)行采樣。其中前端采集電路及ADC采樣電路對ENOB有較大影響，實(shí)際工作時(shí)，偏置誤差，非線性誤差，增益誤差，隨機(jī)噪聲，甚至還有ADC交織引起的噪聲都會(huì)增大ENOB。ENOB說明了什麼ENOB是衡量ADC性能的標(biāo)尺，若示波器ENOB指標(biāo)好，那麼偏置誤差、增益誤差、非線性度等都較小，同時(shí)帶寬噪聲也較低。如果主要被測信號(hào)是正弦波信號(hào)，那麼ENOB就需要重點(diǎn)關(guān)注。通常示波器都由前端電路衰減器、放大器等信號(hào)調(diào)理電路、ADC采樣電路組成，在設(shè)計(jì)的時(shí)候，會(huì)在前端采用射頻技術(shù)，頻率響應(yīng)方式，實(shí)現(xiàn)的頻響平坦度，以便ADC采樣時(shí)失真，增大ENOB指標(biāo)。如何判斷ENOB的大小3.11.底噪示波器在不同垂直檔位及偏置下的底噪大小是評估示波器測量質(zhì)量的一個(gè)重要依據(jù)，通過觀測底噪大小，可以判斷前端采集電路和ADC采樣電路設(shè)計(jì)的優(yōu)劣，因?yàn)槭静ㄆ鞯牡自霑?huì)增加額外的抖動(dòng)並較小設(shè)計(jì)裕量，對測試結(jié)果造成較大的影響。