HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 配電箱多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

聯(lián)係人車(chē)高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。RFID基本組成部分：標(biāo)簽：由耦合元件及芯片組成，每個(gè)標(biāo)簽具有特的電子編碼、附著在物體上標(biāo)識(shí)目標(biāo)對(duì)象。讀寫(xiě)器：由耦合元件，芯片組成，讀?。ㄓ袝r(shí)還可以寫(xiě)入）標(biāo)簽信息的設(shè)備天線：在標(biāo)簽和讀寫(xiě)器之間傳遞射頻信號(hào)RFID的工作頻率分為低頻、高頻和超高頻，常用頻段在125KHz、13.56MHz、900MHz、2.4GHz，主要應(yīng)用場(chǎng)景包括了學(xué)校、企事業(yè)單位、銀行、、鐵路軌道交通等，根據(jù)應(yīng)用的不同，標(biāo)簽類(lèi)型可分為有源和無(wú)源，其器設(shè)計(jì)也有所不同。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

因?yàn)槭褂昧艘缘碗娮?、高速開(kāi)關(guān)為特點(diǎn)的SiC和GaN等新型功率元件的PWM變頻器和AC/DC轉(zhuǎn)換器、DC/DC轉(zhuǎn)換器，其應(yīng)用係統(tǒng)的普及正在不斷加速。構(gòu)成這些係統(tǒng)的變頻器轉(zhuǎn)換器馬達(dá)等裝置的開(kāi)發(fā)與測(cè)試則需要相較以前有著更高精度、更寬頻帶、更高穩(wěn)定性的能夠迅速測(cè)量損耗和效率的測(cè)量係統(tǒng)。各裝置的損耗和效率與裝置的輸入功率和輸出功率同時(shí)測(cè)量，利用它們的差和比計(jì)算。功率通過(guò)電壓和電流測(cè)量，機(jī)械輸出通過(guò)扭矩和轉(zhuǎn)速測(cè)量並計(jì)算。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修20世紀(jì)80年始，非製冷紅外焦平麵陣列探測(cè)器在美國(guó)支持下發(fā)展起來(lái)的，在1992年研發(fā)完成後才對(duì)布。初期技術(shù)路線包括德州儀器研製的BST熱釋電探測(cè)器和霍尼韋爾研製的氧化釩（VOx）微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器。後來(lái)由於熱釋電技術(shù)本身的一些局限性，微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器逐漸勝出。2009年，L-3公司終宣布停止繼續(xù)生產(chǎn)熱釋電探測(cè)器。之後，法國(guó)的CEA/LETI以及德州儀器公司又分彆研製了非晶矽（a-Si）微測(cè)輻射熱計(jì)探測(cè)器。