HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) 三回路JP櫃溫升測試儀HNDL 直流開關試驗電源 容量大 5年保修 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。測控技術是直接應用於生產生活的應用技術，它的應用涵蓋了“農輕重、海陸空、吃穿用”等社會生活各個領域。儀器儀表技術是國民經濟的“倍增器”，科學研究的“先行官”，**上的“戰(zhàn)鬥力”以及法製法規(guī)中的“物化法官”。計算機化的測試與控製技術以及智能化得精密測控儀器與係統(tǒng)是現(xiàn)代化工農業(yè)生產、科學技術研究、管理檢測監(jiān)控等領域的重要標誌和手段，發(fā)揮著越來越重要的作用。測控技術與儀器儀表技術的應用測控技術是一門應用性技術，廣泛用於工業(yè)、農業(yè)、交通、航海、、**、電力和民用生活各個領域。

1.2 技術參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範圍 0到額定電流，連續(xù)可調， 且該輸出電流為真有效值（指負載被試開關櫃及相關標準規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求）

輸出波形：標準正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

另外，晶體管也可能產生相似的爆裂噪聲和閃爍噪聲，其產生機理與電阻中微粒的不連續(xù)性相近，也與晶體管的摻雜程度有關。半導體器件產生的散粒噪聲由於半導體PN結兩端勢壘區(qū)電壓的變化引起累積在此區(qū)域的電荷數(shù)量改變，從而顯現(xiàn)出電容效應。當外加正向電壓升高時，N區(qū)的電子和P區(qū)的空穴向耗儘區(qū)運動，相當於對電容充電。當正向電壓減小時，它又使電子和空穴遠離耗儘區(qū)，相當於電容放電。當外加反向電壓時，耗儘區(qū)的變化相反。當電流流經勢壘區(qū)時，這種變化會引起流過勢壘區(qū)的電生微小波動，從而產生電流噪聲。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）