HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) JP櫃多回路溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。二維傅裡葉變換Lamb波在時(shí)間和空間上都可以通過二維傅裡葉變換轉(zhuǎn)換為二維各個(gè)離散頻率點(diǎn)的頻率G波數(shù)能量譜,從而分解出單個(gè)Lamb波,並可對(duì)其幅值進(jìn)行測(cè)量。單個(gè)波動(dòng)組分在時(shí)間上的頻度稱為頻率,而在空間(距離)上的頻度稱為波數(shù).由頻率波數(shù)譜中某個(gè)波動(dòng)組分的頻率和波數(shù),可以確定周期和波長(zhǎng)。通過對(duì)接收信號(hào)的二維傅裡葉變換,與理論計(jì)算得到的波數(shù)G頻率的頻散曲線進(jìn)行對(duì)比,從而確定檢測(cè)信號(hào)中包含的Lamb波模態(tài)。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

怎麼用頻譜儀測(cè)量微弱信號(hào)？本文將分為兩部分來為大家講解。怎麼用頻譜儀測(cè)量微弱信號(hào)–RBW篇2.怎麼用頻譜儀測(cè)量微弱信號(hào)–輸入衰減器篇怎麼用頻譜儀測(cè)量微弱信號(hào)–RBW篇頻譜儀的主要用途之一是搜索和測(cè)量微弱電平信號(hào)。這種測(cè)量的終限製是頻譜儀自身產(chǎn)生的噪聲。這些由電路元件的隨機(jī)電子運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生的噪聲經(jīng)過儀多級(jí)增益的放大後作為噪聲信號(hào)出現(xiàn)在顯示屏上。該噪聲在頻譜儀裡通常稱為顯示平均噪聲電平(DANL)，也俗稱為頻譜儀的底噪或者靈敏度。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP櫃多回路溫升試驗(yàn)係統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)如果采用傳統(tǒng)的單機(jī)測(cè)試方式，就存在工況轉(zhuǎn)換的銜接過程，難以進(jìn)行仿真與測(cè)試，這樣的銜接過程往往是係統(tǒng)容易產(chǎn)生故障的環(huán)節(jié)。正因如此，就需要一個(gè)軟硬件結(jié)合的電源自動(dòng)化測(cè)試係統(tǒng)來完成對(duì)航天電源係統(tǒng)性能的測(cè)試。傳統(tǒng)的電源測(cè)試係統(tǒng)由於通用性低，價(jià)格昂貴且難於操作維護(hù)，已經(jīng)不能滿足日益發(fā)展的航天電源係統(tǒng)的測(cè)試需求，需要有一套可以同時(shí)具有高靈活度、高度、高性價(jià)比、高可操作性等特點(diǎn)於一身的電源測(cè)試係統(tǒng)來適應(yīng)行業(yè)的發(fā)展，這樣的係統(tǒng)是測(cè)試航天電源比較理想的選擇方案，在航天電源測(cè)試評(píng)估領(lǐng)域也有廣泛的應(yīng)用前景。