HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL 配電箱溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)櫃進(jìn)行試驗的要求。幾種常見的有機(jī)光譜技術(shù)紅外光譜如何產(chǎn)生？來自紅外光源的紅外光束經(jīng)過光束分解器，這個光束分解器將一半光束送到一個固定鏡子，另一半光束送到可移動鏡子。來自鏡子的紅外光束在它們達(dá)到探測器之前發(fā)生反射並且重新結(jié)合。所有頻率的紅外光束在同一時間通過乾擾儀，並且鏡子的快速移動能同時產(chǎn)生完整的乾涉圖。然後利用傅立葉變換將乾涉圖轉(zhuǎn)換為光譜圖。紅外光譜的產(chǎn)生紅外光譜如何分辨不同成分？分子中存在著O-H,N-H,C-H,S-H等不同官能團(tuán)，不同官能團(tuán)對應(yīng)著不同組分。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時間：大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù)：三相  多路

熱泄漏也是一種能源損失，所以要儘量控製在合理的範(fàn)圍內(nèi)。風(fēng)速儀：烘房中的隧道房、風(fēng)管、烘乾線上的噴嘴、噴漆房的沉降風(fēng)速均需要進(jìn)行風(fēng)速的測量。隧道房及風(fēng)管內(nèi)的風(fēng)速是在1m/s以內(nèi)，烘乾線上的噴嘴風(fēng)速在2m/s沉降風(fēng)速為.3±.5m/s.需要測每個測點的平均值。照度儀：生產(chǎn)車間的光照度的檢測，主要是因為現(xiàn)場有很多工位還是人用肉眼去檢查是否有瑕疵，所以光照度對於車間也是很重要的一項指標(biāo)。具體標(biāo)準(zhǔn)的可以參照國標(biāo)的規(guī)定《工業(yè)照明設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)GB534-92》，測量方法參見《室內(nèi)照明測量方法GB57-85》。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP櫃多回路溫升試驗裝置HNDL 配電箱溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗低功耗與環(huán)境適應(yīng)性：低功耗是便攜式產(chǎn)品研究的重點，功耗決定了產(chǎn)品的使用時間及可用性，同時對溫度、濕度、防水和偶然跌落等的環(huán)境適應(yīng)能力也是便攜式產(chǎn)品競爭的主要指標(biāo)之一。高精度：隨著集成芯片製造技術(shù)、數(shù)字采樣技術(shù)和微處理器速度的提高，便攜式儀表的高準(zhǔn)確度、高分辨率測量的研究已成為主要方向。過載自動保護(hù)、故障自診、記錄與報警。芯片：數(shù)字萬用表的發(fā)展主要依賴於集成芯片技術(shù)的進(jìn)步，便攜式產(chǎn)品的核心技術(shù)就是集成芯片，多功能、低功耗、高可靠、高精度、低成本、小體積、嵌入式微處理器及接口將成為芯片的主要發(fā)展方向。