HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 配電箱大電流發(fā)生器HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修 

用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。鹽霧試驗(yàn)鹽霧測(cè)試分為二大類，一類為天然環(huán)境暴露試驗(yàn)，另一類為人工加速模擬鹽霧環(huán)境試驗(yàn)。與天然環(huán)境相比，人工鹽霧環(huán)境中的氯化物濃度，可以是一般天然環(huán)境鹽霧含量的幾倍或幾十倍，腐蝕速度大大提高，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)，得出結(jié)果的時(shí)間也大大縮短。如在天然暴露環(huán)境下對(duì)某產(chǎn)品樣品進(jìn)行試驗(yàn)，待其腐蝕可能要1年，而在人工模擬鹽霧環(huán)境條件下試驗(yàn)，隻要24小時(shí)，即可得到相似的結(jié)果。人工模擬鹽霧試驗(yàn)包括中性鹽霧試驗(yàn)、醋酸鹽霧試驗(yàn)、銅鹽加速醋酸鹽霧試驗(yàn)、交變鹽霧試驗(yàn)。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

總體質(zhì)量管理(TQM)與ISO9000的實(shí)施也使對(duì)PDM計(jì)劃的需求倍增。TQM與ISO9000都有維護(hù)計(jì)劃程序的要求，以保證流程及所有組成部分都能連續(xù)發(fā)揮高性能。ABB的儀器儀表產(chǎn)品和有關(guān)服務(wù)均圍繞這一理念設(shè)計(jì)。新型ABBAW600化矽及磷酸鹽儀是目前市場(chǎng)上進(jìn)的水質(zhì)儀，該儀的優(yōu)勢(shì)在於擁有許多維護(hù)功能。目前，儀器儀表的維護(hù)存在兩種明顯不足。一種是維護(hù)不足。部分儀器儀表由於安裝位置難以接近或維護(hù)費(fèi)用高昂，常得不到維護(hù)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱大電流發(fā)生器HNDL 箱變溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修低功耗與環(huán)境適應(yīng)性：低功耗是便攜式產(chǎn)品研究的重點(diǎn)，功耗決定了產(chǎn)品的使用時(shí)間及可用性，同時(shí)對(duì)溫度、濕度、防水和偶然跌落等的環(huán)境適應(yīng)能力也是便攜式產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)的主要指標(biāo)之一。高精度：隨著集成芯片製造技術(shù)、數(shù)字采樣技術(shù)和微處理器速度的提高，便攜式儀表的高準(zhǔn)確度、高分辨率測(cè)量的研究已成為主要方向。過(guò)載自動(dòng)保護(hù)、故障自診、記錄與報(bào)警。芯片：數(shù)字萬(wàn)用表的發(fā)展主要依賴於集成芯片技術(shù)的進(jìn)步，便攜式產(chǎn)品的核心技術(shù)就是集成芯片，多功能、低功耗、高可靠、高精度、低成本、小體積、嵌入式微處理器及接口將成為芯片的主要發(fā)展方向。