HNDL係列全自動大電流發(fā)生器測試係統(tǒng)三相溫升大電流發(fā)生器 JP櫃溫升試驗設備 溫升試驗係統(tǒng) 30年經(jīng)驗

是青島華能遠見有限公司自主研製開發(fā)的專業(yè)應用於母線槽、頻率50Hz開關、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調(diào)壓輸出電流?！斑^去，研究人員主要使用間接測量，這種方法通過對極化進行測量，並將極化測量值作為溫度和電壓的函數(shù)推導得出電熱效應，而不是實際的溫度測量結(jié)果，”RomainFaye說?！叭欢?，間接測量並不總是能夠得出正確的解釋。我們的團隊一直在尋找更有效的直接溫度測量方法?！敝苯訙y量溫度變化常用的方法是使用熱電偶和紅外熱像儀。熱電偶是測量與溫度變化相關的電壓變化的電子設備，而紅外熱像儀則測量與溫度變化相關的紅外輻射變化。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩(wěn)流係統(tǒng)，工控機可實現(xiàn)四遙控能

3、 采用當前電力電子技術，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數(shù)小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設置好目標電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設定測試電流，省去手動調(diào)壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 研究小組設計了一個由四臺RGB攝像機和四臺紅外熱像儀組成的係統(tǒng)，這些攝像機的布置方式使拍攝圖像能夠重疊，以生成3D熱圖像和3D地理數(shù)據(jù)。再使用標準軟件對這些數(shù)據(jù)進行和評估。為了創(chuàng)建該係統(tǒng)，研究小組選擇了四臺FLIRA65sc紅外熱像儀以及選自另一家製造商的四臺緊湊型RGB攝像機，這些攝像機都能生成約5百萬像素的圖像。Kaubitzsch研究小組使用FLIRA65sc紅外熱像儀，“由於其良好的64512像素熱成像分辨率、3Hz的幀頻、以太網(wǎng)端口以及16x443mm的緊湊型尺寸”。

二、技術指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.信號發(fā)生器生成波形的方式可以大致分為兩種DDS模式和Arb模式。兩種模式都具有優(yōu)缺點。DDS模式具有低成本、低功耗、高分辨率和頻率轉(zhuǎn)換快等優(yōu)點，適合輸出調(diào)頻、調(diào)相、掃頻信號。但是DDS可能會丟失一些數(shù)據(jù)點。另外一種方式就是Arb模式，可以理解為真任意波形發(fā)生器的意思。使用Arb模式可以編輯真實的複雜的任意波形信號。無論是上述兩種方式的哪一種或是一些新推出的其他方式的波形生成方法，采樣（時鐘）速率和分辨率都是非常關鍵的參數(shù)。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側(cè)麵空氣開關，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗結(jié)束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數(shù)設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖：目前，電子通信發(fā)展迅速，對技術、裝置等方麵也提出了更高的要求。設備製造商也在不斷尋求新的方案，尤其是在熱管理方麵將麵臨更多的挑戰(zhàn)和壓力，需要通過一款靠譜的熱像儀，隨時監(jiān)控變化，獲取高質(zhì)量的熱像圖。愛爾蘭科克郡Tyndall研究所目前正在探尋高性能光電子器件的組建方案。研究所特彆研究小組利用熱顯微鏡係統(tǒng)中的FLIR製冷型中波熱成像儀，清晰地呈現(xiàn)了新一代無源光網(wǎng)絡的矽光子光網(wǎng)絡單元(ONU)圖像。

1.在連接儀器測試線前，應先檢查各項調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。常用α-三氧化二鋁(Al2O3)或煆燒過的氧化鎂(MgO)或石英砂作參比物。如試樣為金屬，也可以用金屬鎳粉作參比物。如果試樣與參比物的熱性質(zhì)相差很遠，則可用稀釋試樣的方法解決，主要是減少反應劇烈程度；如果試樣加熱過程中有氣體產(chǎn)生時，可以減少氣體大量出現(xiàn)，以免使試樣衝出。選擇的稀釋劑不能與試樣有任何化學反應或催化反應，常用的稀釋劑有Si鐵粉、Fe2O玻璃珠Al2O等。紙速的選擇在相同的實驗條件下，同一試樣如走紙速度快，峰的麵積大，但峰的形狀平坦，誤差??；走紙速率小，峰麵積小。