HNDL係列全自動(dòng)大電流發(fā)生器測試係統(tǒng)大電流發(fā)生器 母線槽溫升試驗(yàn)設(shè)備 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 5年保修

是青島華能遠(yuǎn)見有限公司自主研製開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用於母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測試單元包括：高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器（進(jìn)口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動(dòng)調(diào)壓輸出電流。電磁傳感器用於洗碗機(jī)中控製噴水臂的移動(dòng)。許多其他家電中也使用了先進(jìn)的傳感器。非接觸式檢測係統(tǒng)，，用於溫度控製的微加工熱電偶紅外傳感器，它還可以用於炊具、頭發(fā)護(hù)理和烤麵包機(jī)中。流量傳感器可用於電扇和真空吸塵器中空氣質(zhì)量的檢測。加速度和坡度傳感器可用在電奧鬥中。智能多氣體傳感器(人造鼻)可用於自動(dòng)陪烤控製中。用於加熱和溫度控製方麵的傳感器有:溫度傳感器和開關(guān)、壓力傳感器和開關(guān)、氣體和液體流量傳感器。

特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設(shè)備，全自動(dòng)控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動(dòng)穩(wěn)流係統(tǒng)，工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗乾擾能力強(qiáng)，輸出精度高，紋波係數(shù)小於0.2％，準(zhǔn)確度高於0.5%；。

4、 自動(dòng)試驗(yàn)隻需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測試電流，省去手動(dòng)調(diào)壓，減小勞動(dòng)強(qiáng)度，提高工作效率。運(yùn)行時(shí)間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 可選用IT8800係列高性能直流電子負(fù)載，設(shè)置負(fù)載工作在CV恒壓模式，且電壓設(shè)定值大於模擬蓄電池的電源的輸出電壓，避免消耗供電直流源輸出的電量。IT8800係列功率範(fàn)圍150W-55kW，電壓/電流測量速度可達(dá)50kHz，分辨率可達(dá)0.1mV/0.01mA，滿足客戶高精度的測試需求；具有定電壓、定電流、定電阻、定功率四種操作模式，保護(hù)功能完善，內(nèi)置RS232/GPIB/USB通訊接口，滿足通訊需求。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運(yùn)行時(shí)段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高於國標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動(dòng)作時(shí)間。並可同步記錄鎖定動(dòng)作時(shí)間。常開、常閉觸點(diǎn)自動(dòng)判彆。測時(shí)範(fàn)圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.電感位移傳感器被廣泛應(yīng)用於微小位移量檢測中，但在一些工程中現(xiàn)有傳感器的測量精度和靈敏度達(dá)不到測量要求。針對這一問題，對傳感器前段信號處理電路進(jìn)行改進(jìn)，在傳感器上下線圈並聯(lián)電容形成LC電路，利用LC電路諧振效應(yīng)改善電路的性能，以提高信號源頭的靈敏度;采用Multisim軟件對半橋和全橋電路在並聯(lián)不同大小的電容後的性能進(jìn)行仿真，並用Matlab對生成的曲線進(jìn)行二乘擬合，比較得出使電路性能的電容值和並聯(lián)方法。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測品的輔助常閉觸點(diǎn)上。

2、打開儀器側(cè)麵空氣開關(guān)，等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點(diǎn)接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動(dòng)按鈕，即可通過點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動(dòng)歸零位)。

2) 自動(dòng)升流就選擇進(jìn)入“自動(dòng)試驗(yàn)”界麵如下圖：

自動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來設(shè)置輸出電流大小。做長時(shí)間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時(shí)間。如下圖：代數(shù)字存儲(chǔ)示波器（DSO，DigitalStorgeOscilloscope，如b）主要通過高速的ADC將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，然後存儲(chǔ)於內(nèi)存中，再由CPU運(yùn)算與繪製波形。采用這種結(jié)構(gòu)所設(shè)計(jì)的數(shù)字存儲(chǔ)示波器，其功能比模擬示波器有了很大的提升，波形存儲(chǔ)、波形運(yùn)算、自動(dòng)測量等等。模擬示波器的優(yōu)勢在於他的即時(shí)、快速和豐富表現(xiàn)信號的能力，這也是數(shù)字示波器的缺點(diǎn)，原因在於CPU的運(yùn)算能力遠(yuǎn)不及信號的變化速度。

1.在連接儀器測試線前，應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時(shí)，電流輸出線一定要緊固。試驗(yàn)時(shí)間≤300s。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺上，由WATRecipe自動(dòng)控製測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey後，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。