HNDL係列全自動大電流發(fā)生器測試係統(tǒng)溫升大電流發(fā)生器 全自動溫升試驗設(shè)備 母線槽溫升試驗裝置 定製定做

是青島華能遠見有限公司自主研製開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用於母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調(diào)壓輸出電流。一般來說，時鐘頻率跑的越快，則CPU每秒所能完成的運算次數(shù)就越多，性能自然更好，隨著時鐘頻率的增加，CPU就會變得越來越熱，這是CPU內(nèi)部CMOS管耗散功率加大的體現(xiàn)，過高的溫度會影響係統(tǒng)的運行，所以有必要采取措施來“監(jiān)控”CPU的溫度，把它限製在一定溫度範圍內(nèi)，以確保CPU的可靠運行。由於二極管製造工藝的性，我們可以利用二極管的伏安特性來測量CPU的溫度，它的伏安特性如下圖：，將PN結(jié)用外殼封裝起來，並加上電極引線就構(gòu)成了半導(dǎo)體二極管，簡稱為二極管。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設(shè)備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩(wěn)流係統(tǒng)，工控機可實現(xiàn)四遙控能

3、 采用當前電力電子技術(shù)，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數(shù)小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設(shè)置好目標電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測試電流，省去手動調(diào)壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 平均功能是對采樣數(shù)據(jù)執(zhí)行平均處理，能直接支持平均處理的測量功能有：U、P、S、Q等值。平均處理包括指數(shù)平均和移動平均兩種處理方式，下麵介紹兩種方式的區(qū)彆和應(yīng)用。我們來列一個表格：指數(shù)平均選擇指數(shù)平均法，用戶可設(shè)定衰減常數(shù)對電壓或電流有效值、有功功率的瞬時值（采樣數(shù)據(jù)）進行指數(shù)平均，去除被測量的高頻成分。其中衰減常數(shù)可以手動設(shè)置，衰減常數(shù)設(shè)置值越大測量值越穩(wěn)定，對輸入變化的響應(yīng)速度也就越慢，也就是說測量延遲會相應(yīng)變長。

二、技術(shù)指標

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計標準遠遠高於國標<<GB14048.2-14>>.

6.保護設(shè)置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.Simplelink傳感器控製器是的16位處理單元(CPU)核心，在活動模式、待機模式和啟動耗能階段均隻消耗極低功率。如圖2所示，該傳感器控製器包括模擬和數(shù)字外圍設(shè)備，它們專為實現(xiàn)超低功率而進行了優(yōu)化。利用這些外圍設(shè)備和2MHz時鐘模式，使得該控製器非常適合感應(yīng)式測量應(yīng)用，從而實現(xiàn)超低功率：，基於感應(yīng)式測量原則，可以在100Hz時達到低至3.9μA的平均電流消耗值。欲了解詳情，請參閱流量表應(yīng)用示例，閱讀“采用CC13x2R無線MCU的單芯片流量表解決方案。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。

2、打開儀器側(cè)麵空氣開關(guān)，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗結(jié)束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來設(shè)置輸出電流大小。做長時間運行可自由設(shè)定運行時間。如下圖：由於長期使用及管道震動等多因素引起浮子流量計傳感磁鋼、指針、配重、旋轉(zhuǎn)磁鋼等活動部件鬆動，造成誤差較大。解決方法：可先用手推指針的方式來驗證。將指針按在RP位置，看輸出是否為4mA，流量顯示是否為0%，再依次按照刻度進行驗證。若發(fā)現(xiàn)不符，可對部件進行位置調(diào)整。一般要求專業(yè)人員調(diào)整，否則會造成位置丟失，需返回廠家進行校正。無電流輸出看接線是否正確。液晶是否有顯示，若有顯示無輸出，多為輸出管壞，需更換線路板。

1.在連接儀器測試線前，應(yīng)先檢查各項調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s?？煽匚鶛z測方案電控係統(tǒng)長時間運行後，電發(fā)動機會出現(xiàn)跳閘等故障?；洞耍瑢煽匚阅芎脡倪M行檢測，對於係統(tǒng)的日常維護、保證正常運轉(zhuǎn)具有十分重要的意義。通常對電氣設(shè)備的檢測設(shè)備及方法有萬用表、漏電儀、搖表，另外，還可以利用示波器觀測導(dǎo)通電流以判斷可控矽導(dǎo)通情況。在實際生產(chǎn)中，僅采用萬用表無法判斷可控矽的故障。下麵對幾種檢測方法進行對比，以得出可控矽檢測的方法。漏電儀檢測法（耐壓試驗）采用大電流發(fā)生器（簡稱升流器）對可控矽K兩極之間進行漏電試驗。