HNDL係列全自動大電流發(fā)生器測試係統(tǒng)單相大電流發(fā)生器 全自動溫升試驗設(shè)備 程控溫升測試儀 5年保修

是青島華能遠見有限公司自主研製開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用於母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準確性。整機測試單元包括：高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器（進口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動調(diào)壓輸出電流。EMI診斷在實驗室使用普通的測試儀器即完成，帶有FFT功能的中示波器，普通的頻譜儀，近場，手藝好的工程師還可以自己製作性能良好的近場，對於很多較強的EMI輻射，某些回路過大的開關(guān)電源，甚至隻需要一根裸露的導(dǎo)線即可探測到空間中的擾信號。這種定性主要針對的是硬件設(shè)計人員，目的是要快捷簡便，成本低廉，重複性好。圖2使用頻譜儀和近場進行EMI診斷?EMI預(yù)兼容測試（PreCompliancEMI預(yù)兼容測試在產(chǎn)品原型和試產(chǎn)階段，一般要在產(chǎn)品級或係統(tǒng)級進行預(yù)兼容（PreComplianc測試，預(yù)兼容並冇有一個明確的參考標(biāo)準，就是儘量低成本地模擬兼容測試標(biāo)準，對EMI狀況進行較正式的摸底，避免在正式的兼容測試中失敗。

特點

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測試無需外接任何輔助設(shè)備，全自動控製，式操作，簡單方便。

2、 帶有自動穩(wěn)流係統(tǒng)，工控機可實現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗乾擾能力強，輸出精度高，紋波係數(shù)小於0.2％，準確度高於0.5%；。

4、 自動試驗隻需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測試電流，省去手動調(diào)壓，減小勞動強度，提高工作效率。運行時間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級：B級

 注意屏幕上方的軌跡模式指示，黃色的T1[M、P]表示軌跡1處於保持；通過軌跡、[軌跡選擇?]、[軌跡2]、[刷新]軌跡2，並設(shè)置為連續(xù)刷新模式。注意屏幕上方的軌跡模式指示，T2標(biāo)記高亮為藍色，T2[W、P]表示軌跡2處於連續(xù)刷新模式，檢波方式為正峰值；緩慢改變輸入信號的頻率，使其以1kHz步進，在±5kHz變化，信號儀顯示如所示。使用保持觀測漂移信號跟蹤信號信號跟蹤功能對於漂移比較緩慢的信號是非常有用的，它可以將漂移信號一直處於顯示屏幕的中心位置。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可平衡的輸出0—2000A交流大電流。運行時段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓：10V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高於0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計標(biāo)準遠遠高於國標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護設(shè)置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測被測元件的電流動作時間。並可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判彆。測時範(fàn)圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.測試LED光通量在CIE121：1966Clause6.CIE127-2007Clause6.2和IES-LM-79-08Clause9.0都有提到兩種測試方法：一種是采用積分球加光度計或光譜輻射計測試的積分法，這個是總光通量的相對測量方法（CIE121：1966Clause6.1.CIE127-2007Clause6.2.2和IES-LM-79-08Clause9.0）；另外一種是采用分布光度計的光度法，這個是總光通量的測量方法。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上（注：不要接到帶電位的輔助觸點）。

2、打開儀器側(cè)麵空氣開關(guān)，等待幾秒進入試驗選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動按鈕，即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗結(jié)束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動歸零位)。

2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界麵如下圖：

自動試驗時，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來設(shè)置輸出電流大小。做長時間運行可自由設(shè)定運行時間。如下圖：按照存儲芯片MicroSD卡供電要求的範(fàn)圍：2.7V-3.6V；不允許超出此範(fàn)圍，否則，芯片在不穩(wěn)定的電壓下工作會有比較大的風(fēng)險，甚至?xí)ㄆ恼９ぷ鲙碛绊憽Ｐ枰紤]的是示波器的設(shè)置，究竟是否需要進行20MHZ的帶寬限製？詳細的使用環(huán)境如下圖所示：如何去測試“高頻開關(guān)電源”噪聲IPAD剛引出來的那個端口可以當(dāng)做電源的源端，而通過後端的外圍模塊後在末端進行測試的時候，電源通過了一段PCB走線，包括一些芯片回路，應(yīng)該存在高頻的噪聲，如果采用20MHZ的帶寬限製，實際上是將原本屬於模塊的噪聲給濾掉了，為此，我們進行了對比測試進行驗證：步，我先驗證IPAD的供電端在工作時的輸出，如下圖：通過直接驗證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的；通過測試，我們發(fā)現(xiàn)在源端測量的電壓值在3.4V（500MHZ帶寬測量）左右，峰峰值29mV，是非常穩(wěn)定的供電；可以排除源端供電的問題，接下來，我們直接在通過整個模塊後在MicroSD卡的供電腳SDVCC對電行測量，如下圖：當(dāng)我們在圖片上的點進行測試的時候，發(fā)現(xiàn)在高頻開關(guān)電源上有相當(dāng)大的噪聲，使得電壓超出了規(guī)範(fàn)要求的範(fàn)圍，值達到了3.814V，峰峰值達854mV；但當(dāng)我們將示波器設(shè)置為20MHZ帶寬的時候，高頻開關(guān)電源變的非常好，完全在供電要求的範(fàn)圍內(nèi)；正如在本文開頭描述的，在本次高頻開關(guān)電源測試過程中，已經(jīng)不是高頻開關(guān)電源紋波測量，而應(yīng)該是噪聲。

1.在連接儀器測試線前，應(yīng)先檢查各項調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時，電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。室內(nèi)環(huán)境中計算機係統(tǒng)輻射頻譜的測量本次測量在正常的室內(nèi)電磁環(huán)境中進行。受測試計算機係統(tǒng)放置在高1m的木質(zhì)測試臺上，遠離可能的輻射源及金屬物體，顯示器數(shù)據(jù)線及電源線垂直地麵放置。采用HD0110LPDA7型對數(shù)周期天線，連接到TektronixWCA280A無線通信儀進行測量。測量分成兩個步驟，測量環(huán)境中的背景噪聲，然後讓計算機正常工作，顯示一幅圖片情況下，測量其輻射頻譜。室內(nèi)環(huán)境中背景噪聲頻譜測量關(guān)閉待測量的計算機係統(tǒng)，測量環(huán)境中的背景噪聲。