HNDL係列全自動(dòng)大電流發(fā)生器測(cè)試係統(tǒng)交流大電流發(fā)生器 便攜式大電流發(fā)生器 開(kāi)關(guān)櫃溫升測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

是青島華能遠(yuǎn)見(jiàn)有限公司自主研製開(kāi)發(fā)的專業(yè)應(yīng)用於母線槽、頻率50Hz開(kāi)關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。則有效的保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測(cè)試單元包括：高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器（進(jìn)口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控製器等部分。自動(dòng)調(diào)壓輸出電流。本文說(shuō)明了一種通用的集成電路RF噪聲測(cè)量技術(shù)。RF抗乾擾能力測(cè)試將電路板置於可控製的RF信號(hào)電平下，RF電平代表電路工作時(shí)可能受到的乾擾強(qiáng)度。從而產(chǎn)生了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)化、結(jié)構(gòu)化的測(cè)試方法，使用這種方法能夠得到在質(zhì)量中可重複的測(cè)試結(jié)果。這樣的測(cè)試結(jié)果有助於IC選型，從而獲得能夠抵抗RF噪聲的電路?？梢詫⒈粶y(cè)器件(DUT)靠近正在工作的蜂窩，以測(cè)試其RF敏感度。為了得到一個(gè)的、具有可重複性的測(cè)試結(jié)果，需要采用一種固定的測(cè)量方法，在可重複的RF場(chǎng)內(nèi)測(cè)試DUT。

特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測(cè)試無(wú)需外接任何輔助設(shè)備，全自動(dòng)控製，式操作，簡(jiǎn)單方便。

2、 帶有自動(dòng)穩(wěn)流係統(tǒng)，工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗乾擾能力強(qiáng)，輸出精度高，紋波係數(shù)小於0.2％，準(zhǔn)確度高於0.5%；。

4、 自動(dòng)試驗(yàn)隻需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無(wú)需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測(cè)試電流，省去手動(dòng)調(diào)壓，減小勞動(dòng)強(qiáng)度，提高工作效率。運(yùn)行時(shí)間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級(jí)：B級(jí)

 電磁感應(yīng)當(dāng)兩個(gè)電路之間有互感存在時(shí)，一個(gè)電路中電流的變化就會(huì)通過(guò)磁場(chǎng)耦合到另一個(gè)電路，這一現(xiàn)象稱為電磁感應(yīng)。變壓器及線圈的漏磁、通電平行導(dǎo)線等。漏電流感應(yīng)由於電子線路內(nèi)部的元件支架、接線柱、印刷電路板、電容內(nèi)部介質(zhì)或外殼等絕緣，特彆是傳感器的應(yīng)用環(huán)境濕度較大，絕緣體的絕緣電阻下降，導(dǎo)致漏電電流增加就會(huì)引起乾擾。尤其當(dāng)漏電流流入測(cè)量電路的輸入級(jí)時(shí)，其影響就特彆嚴(yán)重。射頻乾擾主要是大型動(dòng)力設(shè)備的啟動(dòng)、操作停止的乾擾和高次諧波乾擾。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可平衡的輸出0—2000A交流大電流。運(yùn)行時(shí)段可自行設(shè)定。

3. 輸出開(kāi)口電壓：10V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高於0.5級(jí).電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高於國(guó)標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過(guò)流、過(guò)壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測(cè)被測(cè)元件的電流動(dòng)作時(shí)間。並可同步記錄鎖定動(dòng)作時(shí)間。常開(kāi)、常閉觸點(diǎn)自動(dòng)判彆。測(cè)時(shí)範(fàn)圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.RaytekMMMT測(cè)溫儀可以很巧妙地避免上述問(wèn)題的發(fā)生。它的優(yōu)勢(shì)集中在以下三個(gè)方麵：選擇正確波長(zhǎng)的儀器是在RaytekMMMT應(yīng)用成功的關(guān)鍵。波長(zhǎng)短原則可能不適用。如果火焰比較臟，RaytekMMMT傳感器將取得比較好的測(cè)溫效果。如果使用一個(gè)波長(zhǎng)較短的設(shè)備，火焰對(duì)測(cè)溫儀將有很大影響，產(chǎn)生一個(gè)較高的溫度。提供一個(gè)模擬輸出溫度，用戶可以在金屬在正確溫度時(shí)控製加熱的火焰。加熱周期可以被減少並減少過(guò)熱，產(chǎn)品溫度不合格情況是可以避免的。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器後麵電流輸出端子與被測(cè)品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。麵板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測(cè)品的輔助常閉觸點(diǎn)上（注：不要接到帶電位的輔助觸點(diǎn)）。

2、打開(kāi)儀器側(cè)麵空氣開(kāi)關(guān)，等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界麵如下圖：

電流輸出線與常閉觸點(diǎn)接入後，注急停按鈕不要按下，直接按啟動(dòng)按鈕，即可通過(guò)點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來(lái)調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束後，都要按下麵板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動(dòng)歸零位)。

2) 自動(dòng)升流就選擇進(jìn)入“自動(dòng)試驗(yàn)”界麵如下圖：

自動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來(lái)設(shè)置輸出電流大小。做長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時(shí)間。如下圖：容性負(fù)載過(guò)大如中的電路所示，一個(gè)3W的模塊，輸出使用了2uF的電容，而通過(guò)查閱產(chǎn)品手冊(cè)了解到，模塊建議輸出電容為8uF。輸出電容過(guò)大可能導(dǎo)致啟動(dòng)，而對(duì)於不帶短路保護(hù)的微功率DC-DC模塊，輸出電容過(guò)大甚至可能導(dǎo)致模塊損壞。接開(kāi)關(guān)電源芯片，注意啟動(dòng)如所示，電源模塊的輸出電壓是逐漸建立的，電路的LM2576冇有設(shè)計(jì)欠壓鎖定，在VIN電壓較低時(shí)即開(kāi)始啟動(dòng)，若OUT負(fù)載過(guò)重，可能被24V模塊誤判為短路或容性負(fù)載過(guò)大，從而導(dǎo)致啟動(dòng)。

1.在連接儀器測(cè)試線前，應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時(shí)，電流輸出線一定要緊固。試驗(yàn)時(shí)間≤300s。從計(jì)算機(jī)鼠標(biāo)到高速網(wǎng)絡(luò)路由器等設(shè)備均能夠重新編寫(xiě)設(shè)備的固件和硬件，從而進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)。上文提及的四家公司（Atmel、賽普拉斯、Microchip和NXP）均可提供“膠連”邏輯，幫助減輕主處理器的負(fù)荷，或是無(wú)需使用外部邏輯。就提供的邏輯模塊類型和這些邏輯模塊彼此互聯(lián)的方式以及與定時(shí)器、UART和IO引腳等板載模塊互聯(lián)的方式而言，每家公司都采取了不同的方法。因此有必要了解這些廠家各自是如何實(shí)現(xiàn)內(nèi)部可編程邏輯的，以便為選擇自己項(xiàng)目的解決方案做出決策。