HN11C高壓開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試儀接觸回路電阻測(cè)試儀 HN11C係列 安秒特性測(cè)試儀 試驗(yàn)方法
一、功能特點(diǎn) 

測(cè)試指標(biāo)：可測(cè)試國(guó)產(chǎn)（進(jìn)口）真空、六氟化硫、油高壓斷路器，負(fù)荷開(kāi)關(guān)、GIS接地刀閘開(kāi)關(guān)、接觸器、繼電器、空氣開(kāi)關(guān)等。合、分閘時(shí)間、同期、彈跳時(shí)間、次數(shù)、自動(dòng)重合閘、行程、速度、電流、動(dòng)作電壓等各項(xiàng)數(shù)據(jù)、波形。

抗擾通道：可抵禦550KV變電所現(xiàn)場(chǎng)靜電乾擾！目前許多場(chǎng)用這種測(cè)試方法，但是其非常危險(xiǎn)，因?yàn)槭静ㄆ魍ǖ琅c地，通道與通道之間都是不隔離的，所以測(cè)試時(shí)，示波器裸露在外的所有金屬端口，都是帶電的。使用差分測(cè)試使用差分測(cè)試是目前比較規(guī)範(fàn)的一種方法，通過(guò)處進(jìn)行隔離，避免了輸入輸出共地的情況。但是差分也有局限性，由於測(cè)試通道較多，且屬於易損配件，使用差分會(huì)增大成本。其次，在一些場(chǎng)合中，測(cè)試點(diǎn)往往是較小的孔腳，差分往往是較大的夾環(huán)，實(shí)際中很難測(cè)試，從而導(dǎo)致許多工程師使用剪掉示波器供電插頭地腳的方法進(jìn)行測(cè)試。

位移通道：1路位移信號(hào)采集，適配耐用的精密電阻線性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶傳統(tǒng)自配的滑線電阻傳感器。

同步觸發(fā)：可響應(yīng)電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無(wú)電位接點(diǎn)操作控製模塊，無(wú)彈跳接點(diǎn)，接點(diǎn)開(kāi)斷容量： 30A，250V（AC/DC）

操作界麵：5.7″黑白液晶屏，菜單式操作，並在麵板上增加了快捷設(shè)置按鍵。配備高精度激光傳感器，傳感器安裝迅速、快捷、簡(jiǎn)單；同時(shí)也可配置滑線電阻傳感器和角度傳感器；並配備齊全相關(guān)傳感器、斷路器的測(cè)試支架；在我們平時(shí)的仿真模擬測(cè)試過(guò)程中，經(jīng)常會(huì)需要信號(hào)源輸出一些仿真現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際情況的非標(biāo)準(zhǔn)波形，如現(xiàn)場(chǎng)波形，編碼誤觸發(fā)波形，**氣囊碰撞展開(kāi)激勵(lì)信號(hào)等等。對(duì)於此類波形通常都需要用函數(shù)耦合甚至隻能現(xiàn)場(chǎng)捕獲複現(xiàn)。而這種要求對(duì)於大多數(shù)僅能產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)波形的函數(shù)信號(hào)源來(lái)說(shuō)就顯得力不從心。而對(duì)於此類波形要求，采用具有連續(xù)采樣的任意波形就可以輕鬆搞定。我們就演示利用RIGOL的具有連續(xù)采樣功能的DG1Z任意波形發(fā)生器和DS1Z數(shù)字示波器分三步即可模擬生成任意波。

速度定義：提供了常用的開(kāi)關(guān)速度定義庫(kù)和可編輯速度定義庫(kù)兩種模式可供用戶自行選擇。

錄波功能：12路普通金屬觸頭通斷、線圈電流；行程、時(shí)間波形。具有斷路器型號(hào)庫(kù)功能，測(cè)試時(shí)可直接調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)斷路器型號(hào)，無(wú)需特彆設(shè)置

U盤(pán)存儲(chǔ)：可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲(chǔ)到U盤(pán)，直接用上位機(jī)軟件打開(kāi)。

在線幫助：儀器內(nèi)置豐富的接線、安裝、測(cè)試操作幫助。無(wú)說(shuō)明書(shū)就能簡(jiǎn)單使用。電子負(fù)載，顧名思義，是用電子器件實(shí)現(xiàn)的“負(fù)載”功能。具體地說(shuō)，電子負(fù)載是通過(guò)控製內(nèi)部功率器件MOSFET或晶體管的導(dǎo)通量，使功率管耗散功率，消耗電能的設(shè)備。電子負(fù)載類似於可以拉載電流的輸入設(shè)備，如同一個(gè)可編程的功率電阻。直流電子負(fù)載應(yīng)用領(lǐng)域直流電子負(fù)載通過(guò)模擬實(shí)物負(fù)載和負(fù)載波形，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)電源供應(yīng)器規(guī)格特性的測(cè)試，也可以作為ATE或ATS係統(tǒng)的組成單元，在線對(duì)充電器、蓄電池等的壽命特性及功率電子元器件的參數(shù)特性進(jìn)行測(cè)試。