HN11C高壓開關(guān)綜合測(cè)試儀高壓斷路器儀 HN11C係列 剩餘電流測(cè)試儀 5年保修
一、功能特點(diǎn) 

測(cè)試指標(biāo)：可測(cè)試國產(chǎn)（進(jìn)口）真空、六氟化硫、油高壓斷路器，負(fù)荷開關(guān)、GIS接地刀閘開關(guān)、接觸器、繼電器、空氣開關(guān)等。合、分閘時(shí)間、同期、彈跳時(shí)間、次數(shù)、自動(dòng)重合閘、行程、速度、電流、動(dòng)作電壓等各項(xiàng)數(shù)據(jù)、波形。

抗擾通道：可抵禦550KV變電所現(xiàn)場(chǎng)靜電乾擾！目前用於檢測(cè)SF6泄漏的方法及局限性：*壓力計(jì)：在線監(jiān)測(cè)設(shè)備內(nèi)部SF6氣體壓力大小，但無法泄漏點(diǎn)。*嗅探器：可用來檢測(cè)空氣中SF6氣體濃度，但也無法泄漏點(diǎn)。*製冷型SF6檢測(cè)熱像儀：價(jià)格極為昂貴。*租賃檢測(cè)：價(jià)格高且需要持續(xù)花銷。FlukeTi45SF6氣體檢漏熱像儀泄漏，隱患無處遁形*熱像儀SF6氣體泄漏可視化，輕鬆泄漏點(diǎn)*優(yōu)異熱靈敏度≤.25℃，捕捉更多細(xì)節(jié)*高達(dá)64*48的實(shí)測(cè)紅外像素，實(shí)現(xiàn)測(cè)量*標(biāo)配2倍長焦鏡頭，觀測(cè)更遠(yuǎn)更小目標(biāo)*多種對(duì)焦方式，輕鬆獲得清晰圖像*HDMI高清目鏡，無懼外界光線乾擾，可分辨屏幕上更多微小細(xì)節(jié)Ti45SF6熱像儀標(biāo)配2倍長焦鏡頭、三腳架安裝支架(可安裝任意行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)三腳架)、HDMI高清目鏡、HDMI數(shù)據(jù)線、取景器、電池和充電器，容納在硬殼便攜箱內(nèi)。

位移通道：1路位移信號(hào)采集，適配耐用的精密電阻線性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶傳統(tǒng)自配的滑線電阻傳感器。

同步觸發(fā)：可響應(yīng)電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無電位接點(diǎn)操作控製模塊，無彈跳接點(diǎn)，接點(diǎn)開斷容量： 30A，250V（AC/DC）

操作界麵：5.7″黑白液晶屏，菜單式操作，並在麵板上增加了快捷設(shè)置按鍵。配備高精度激光傳感器，傳感器安裝迅速、快捷、簡(jiǎn)單；同時(shí)也可配置滑線電阻傳感器和角度傳感器；並配備齊全相關(guān)傳感器、斷路器的測(cè)試支架；擁有市電旁路、逆變輸出兩種輸出方式，具備不間斷供電功能。擁有4種充電模式可選：僅太陽能、市電優(yōu)先、太陽能優(yōu)先、混合充電。先進(jìn)的MPPT技術(shù)，效率高達(dá)99.9%。自帶鋰電池功能，PV有電即可鋰電池，支持鉛酸電池、鋰電池接入。（太陽能逆控一體機(jī)接線圖）待測(cè)物如圖所示左側(cè)為市電AC輸入端子和AC輸出端子，中間為蓄電池Battery輸入端子，右側(cè)為太陽能電池板PV輸入端子。ITECH測(cè)試解決方案使用IT6537CPV-SIM模擬太陽能電池板給逆變器供電，IT6533D模擬電池給逆變器供電，IT7600模擬市電輸入，實(shí)現(xiàn)待測(cè)物逆變器的BatteryInput、ACInput、PVInput3種輸入方式的模擬，完成相關(guān)功能測(cè)試。

速度定義：提供了常用的開關(guān)速度定義庫和可編輯速度定義庫兩種模式可供用戶自行選擇。

錄波功能：12路普通金屬觸頭通斷、線圈電流；行程、時(shí)間波形。具有斷路器型號(hào)庫功能，測(cè)試時(shí)可直接調(diào)用數(shù)據(jù)庫斷路器型號(hào)，無需特彆設(shè)置

U盤存儲(chǔ)：可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲(chǔ)到U盤，直接用上位機(jī)軟件打開。

在線幫助：儀器內(nèi)置豐富的接線、安裝、測(cè)試操作幫助。無說明書就能簡(jiǎn)單使用。可控矽檢測(cè)方案電控係統(tǒng)長時(shí)間運(yùn)行後，電發(fā)動(dòng)機(jī)會(huì)出現(xiàn)跳閘等故障?；洞?，對(duì)可控矽性能好壞進(jìn)行檢測(cè)，對(duì)於係統(tǒng)的日常維護(hù)、保證正常運(yùn)轉(zhuǎn)具有十分重要的意義。通常對(duì)電氣設(shè)備的檢測(cè)設(shè)備及方法有萬用表、漏電儀、搖表，另外，還可以利用示波器觀測(cè)導(dǎo)通電流以判斷可控矽導(dǎo)通情況。在實(shí)際生產(chǎn)中，僅采用萬用表無法判斷可控矽的故障。下麵對(duì)幾種檢測(cè)方法進(jìn)行對(duì)比，以得出可控矽檢測(cè)的方法。漏電儀檢測(cè)法（耐壓試驗(yàn)）采用大電流發(fā)生器（簡(jiǎn)稱升流器）對(duì)可控矽K兩極之間進(jìn)行漏電試驗(yàn)。